申请/专利权人：芯测通(深圳)半导体有限公司

申请日：2024-01-30

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117854578A

主分类号：G11C29/56

分类号：G11C29/56

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本发明涉及自动化测试技术领域，尤其涉及自动化测试结构及ATE设备，该结构包括：中央处理器和FPGA；其中，FPGA与中央处理器连接，FPGA还通过待测物接口板与待测物连接；中央处理器，用于检测待测物，并基于待测物的类型输出测试指令至FPGA；FPGA，用于在接收到测试指令时，基于测试指令将主控代码切换至待测物对应的主控代码，并基于主控代码测试对应的待测物。本发明通过FPGA在接收到测试指令时，基于测试指令将主控代码切换至待测物对应的主控代码，并基于主控代码测试对应的待测物，有效地解决了传统基于特定导向芯片的测试设备功能单一、无法多用途使用的问题。

主权项：1.一种自动化测试结构，其特征在于，所述结构包括：中央处理器和FPGA；其中，所述FPGA与所述中央处理器连接，所述FPGA还通过待测物接口板与待测物连接；所述中央处理器，用于检测所述待测物，并基于所述待测物的类型输出测试指令至所述FPGA；所述FPGA，用于在接收到所述测试指令时，基于所述测试指令将主控代码切换至所述待测物对应的主控代码，并基于所述主控代码测试对应的待测物。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 芯测通(深圳)半导体有限公司 自动化测试结构及ATE设备

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