申请/专利权人：合肥康芯威存储技术有限公司

申请日：2024-03-05

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117854569A

主分类号：G11C29/12

分类号：G11C29/12

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本发明提供了一种存储器的性能测试系统及性能测试方法，包括性能测试端以及主机端，主机端用于预先搭建数据写入模型，所述数据写入模型为多个子写入模型的融合，性能测试端包括多个存储器测试座，分别用于安装多个存储器；以及中央处理器，用于基于主机端确定的子写入模型，对多个存储器进行写入测试，以获取每个子写入模型对应的场景写放大系数；主机端还用于对多个场景写放大系数进行汇总处理，以生成多个存储器的总写放大系数的数据对比表。本发明可搭建数据写入模型模拟存储器的目标应用场景，大大提高测试分析效率以及测试数据的全面性。

主权项：1.一种存储器的性能测试系统，其特征在于，包括性能测试端以及主机端，所述性能测试端与所述主机端通信连接；所述主机端用于预先搭建数据写入模型，所述数据写入模型为多个子写入模型的融合，多个所述子写入模型包括顺序写模型、随机写模型、乒乓写模型及热点写模型，且所述数据写入模型用于指示顺序写模型的数据写入比例、随机写模型的数据写入比例、乒乓写模型的数据写入比例以及热点写模型的数据写入比例，所述性能测试端包括：多个存储器测试座，分别用于安装多个存储器，其中，所述数据写入模型是所述主机端基于多个所述存储器的目标应用场景进行搭建的，所述目标应用场景是顺序写操作、随机写操作、乒乓写操作及热点写操作的场景融合；以及中央处理器，通信连接于多个所述存储器测试座，用于基于所述主机端确定的数据写入模型中的子写入模型，对多个所述存储器进行写入测试，以获取多个所述存储器的测试数据，并用于对所述测试数据进行分析处理，以获取每个所述子写入模型对应的场景写放大系数；所述主机端还用于接收所述中央处理器传输的多个场景写放大系数，并对多个所述场景写放大系数进行汇总处理，以生成多个所述存储器的总写放大系数的数据对比表，所述数据对比表用于指示多个所述存储器在同一种所述目标应用场景下的性能差异；其中，多个所述存储器的总写放大系数表示为WAI，WAI=WAIsw×A%+WAIrw×B%+WAIpp×C%+WAIhs×D%，其中，WAIsw表示所述顺序写模型对应的场景写放大系数，WAIrw表示所述随机写模型对应的场景写放大系数，WAIpp表示所述乒乓写模型对应的场景写放大系数，WAIhs表示所述热点写模型对应的场景写放大系数，A%为顺序写模型的数据写入比例，B%为随机写模型对应的数据写入比例，C%为乒乓写模型对应的数据写入比例，D%为热点写模型对应的数据写入比例，且A%+B%+C%+D%=100%。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 合肥康芯威存储技术有限公司 一种存储器的性能测试系统及性能测试方法

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