申请/专利权人：深圳贝特莱电子科技股份有限公司

申请日：2024-03-08

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117849468A

主分类号：G01R27/26

分类号：G01R27/26

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.26#实质审查的生效;2024.04.09#公开

摘要：本发明公开了一种触摸板盖板电容值的测试方法，涉及电容测试技术领域，解决了采用数字电桥测试触摸板盖板的电容值局限性大，需要搭配多种辅助配件，测试成本高的技术问题。该方法包括将所述盖板、触摸感应层划分为n个区域；其中，所述区域包括至少一个互电容节点，n≥1；通过所述互电容检测电路，测试所述触摸感应层每个所述区域的第一平均电容变化值C1；通过所述互电容检测电路，测试所述盖板每个所述区域的第二平均电容变化值C2；根据所述第一平均电容变化值C1、第二平均电容变化值C2，计算每个所述区域对应的所述盖板的电容值。本发明局限性小，测试成本低。

主权项：1.一种触摸板盖板电容值的测试方法，其特征在于，所述触摸板包括盖板和触摸感应层，通过互电容检测电路对所述盖板的电容值进行测试，包括以下步骤：S1、将所述盖板、触摸感应层皆划分为n个区域；其中，所述区域包括至少一个互电容节点，n≥1；所述盖板、触摸感应层的每个区域一一对应；S2、通过所述互电容检测电路，测试所述触摸感应层每个所述区域的第一平均电容变化值C1；S3、通过所述互电容检测电路，测试所述盖板每个所述区域的第二平均电容变化值C2；其中，所述第一平均电容变化值C1、第二平均电容变化值C2为所述区域内，所述互电容节点的电容变化值的平均值；S4、根据所述第一平均电容变化值C1、第二平均电容变化值C2，计算每个所述区域对应的所述盖板的电容值。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳贝特莱电子科技股份有限公司 一种触摸板盖板电容值的测试方法

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