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【发明授权】段塞流液膜厚度测量方法、装置、计算机设备和介质_清华大学_202210509504.0 

申请/专利权人:清华大学

申请日:2022-05-11

公开(公告)日:2024-04-09

公开(公告)号:CN115289957B

主分类号:G01B7/06

分类号:G01B7/06

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.09#授权;2022.11.22#实质审查的生效;2022.11.04#公开

摘要:本申请涉及一种段塞流液膜厚度测量方法、装置、计算机设备和介质。所述方法包括:通过平行线电导传感器,在预设时间段内采集测试管道中段塞流的第一电压信号;通过探针式电导传感器,在预设时间段内采集测试管道中段塞流的第二电压信号,根据第二电压信号从第一电压信号中确定目标电压信号;平行线电导传感器与探针式电导传感器内嵌在测试管道的内壁上,且平行线电导传感器与探针式电导传感器的激励信号相同;根据第一电压信号及目标电压信号,计算与第一电压信号对应的段塞流的液膜厚度。采用本方法能够比较便捷的进行段塞流液膜厚度的测量,而无需事先测得管道满液情况下的电压信号。

主权项:1.一种段塞流液膜厚度测量方法,其特征在于,所述方法包括:通过平行线电导传感器,在预设时间段内采集测试管道中段塞流的第一电压信号;通过探针式电导传感器,在所述预设时间段内采集所述测试管道中段塞流的第二电压信号,根据所述第二电压信号从所述第一电压信号中确定目标电压信号;所述平行线电导传感器与所述探针式电导传感器内嵌在所述测试管道的内壁上,且所述平行线电导传感器与所述探针式电导传感器的激励信号相同;所述目标电压信号为当所述段塞流的液膜厚度达到所述探针式电导传感器的探头高度时,所述平行线电导传感器所采集到的第一电压信号;根据所述第一电压信号及所述目标电压信号,计算与所述第一电压信号对应的段塞流的液膜厚度;所述通过探针式电导传感器,在所述预设时间段内采集所述测试管道中段塞流的第二电压信号,根据所述第二电压信号从所述第一电压信号中确定目标电压信号,包括:通过探针式电导传感器,采集所述测试管道中段塞流的第二电流信号;对所述第二电流信号进行电压转换,生成与所述第二电流信号对应的第二电压信号;根据所述第二电压信号确定出现斩波现象的目标时刻,基于所述目标时刻对应的第一电压信号生成所述目标电压信号。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 清华大学 段塞流液膜厚度测量方法、装置、计算机设备和介质

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