申请/专利权人：杭州行芯科技有限公司

申请日：2023-11-07

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117217160B

主分类号：G06F30/392

分类号：G06F30/392;G06F30/398

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.09#授权;2023.12.29#实质审查的生效;2023.12.12#公开

摘要：本申请的一种交叠结构的电容库创建方法，包括如下步骤：确定与交叠结构对应的采样参数，所述采样参数用于指示所述交叠结构的结构信息，所述采样参数至少包括独立参数，所述独立参数的取值范围与其他采样参数的取值相互独立；基于所述采样参数，获取所述交叠结构的至少一个采样模式；创建所述电容库中所述至少一个采样模式对应的采样电容值。本申请的交叠结构的电容库创建方法、交叠结构的电容获取方法、设备及介质采用包括独立参数的采样参数，因此能保证独立参数的独立性，从而能创建更加完整的电容库，且提高电容获取的效率和准确率。

主权项：1.一种交叠结构的电容库创建方法，其特征在于，包括如下步骤：确定与交叠结构对应的采样参数，所述采样参数用于指示所述交叠结构的结构信息，所述采样参数包括归一化系数，其中r=2*sw1+w2，r为所述归一化系数，s为所述交叠结构中的第一导体与第二导体的中心沿水平方向的偏移位移，w1为所述第一导体的第一宽度，w2为所述第二导体的第二宽度；基于所述采样参数，获取所述交叠结构的至少一个采样模式，一个采样模式用于指示所述交叠结构的一种采样结构；创建所述电容库中所述至少一个采样模式对应的采样电容值。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 杭州行芯科技有限公司 交叠结构的电容库创建方法、电容获取方法、设备及介质

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