申请/专利权人：华邦电子股份有限公司

申请日：2020-04-24

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN113554585B

主分类号：G06T7/00

分类号：G06T7/00;G06T7/62;G06T7/73;G06N3/0464;G01B15/00;G01N23/2251

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.09#授权;2021.11.12#实质审查的生效;2021.10.26#公开

摘要：一种影像分析系统及影像分析方法，所述影像分析系统包含：一影像获取装置以及一处理器；影像获取装置用以获取一待分析影像；处理器用以将待分析影像输入至一区域卷积神经网络模型，区域卷积神经网络模型输出一遮罩影像，处理器计算遮罩影像中的一遮罩物件的一中心，将中心视为一坐标原点，往相对坐标原点的四个象限分别搜寻与坐标原点距离最远的一最远坐标点，对于每个最远坐标点产生一影像分析区块，并将影像分析区块进行一后处理，以取得一物件范围。

主权项：1.一种影像分析系统，其特征在于，包含：一影像获取装置，用以获取一待分析影像；以及一处理器，用以将所述待分析影像输入至一区域卷积神经网络模型，所述区域卷积神经网络模型输出一遮罩影像，所述处理器计算所述遮罩影像中的一遮罩物件的一中心，将所述中心视为一坐标原点，往相对所述坐标原点的四个象限分别搜寻与所述坐标原点距离最远的一最远坐标点，对于每个所述最远坐标点产生一影像分析区块，并将所述影像分析区块进行一后处理，以取得一物件范围；其中，所述影像分析区块包含一当前分析区块，所述处理器还用以在进行所述后处理时，将所述当前分析区块进行一平滑化处理；所述处理器还用以在进行所述后处理时，垂直扫描所述当前分析区块的每个像素，当所述处理器在垂直扫描所述当前分析区块的一第一像素行时，计算所述第一像素行中的所有像素各自的一第一像素强度，所述第一像素强度形成一第一像素曲线，计算所述第一像素曲线的斜率，以得到一第一斜率曲线，将所述第一斜率曲线的最大值标示为一标示点；其中所述处理器还用以垂直扫描所述当前分析区块的每个像素，以取得多个标示点，计算所述标示点所对应的一强度平均值，将所述强度平均值乘以一参数，以取得一门槛值，将所述像素强度低于所述门槛值的所述标示点过滤后，将剩余的所述标示点代入一线性回归演算法，以取得一回归线段。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 华邦电子股份有限公司 影像分析系统及影像分析方法

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