申请/专利权人：珠海妙存科技有限公司

申请日：2023-05-12

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN116736076B

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.09#授权;2023.09.29#实质审查的生效;2023.09.12#公开

摘要：本发明公开了一种芯片休眠状态检测方法、系统、电子设备和存储介质，涉及芯片检测技术领域。芯片休眠状态检测方法包括：在预设的第一时间段内，持续检测待检测芯片的电流和电压；根据待检测芯片的电流和电压，获得待检测芯片的休眠电流和休眠电压；根据休眠电流和休眠电压，计算待检测芯片的休眠时间和休眠功耗。根据本发明实施例的芯片休眠状态检测方法，通过持续检测待检测芯片的电流和电压，再根据检测到电流和电压的情况，获得待检测芯片在休眠状态下的电流和电压，能够进一步计算出待检测芯片的休眠时间和休眠功耗，从而判断出芯片在休眠状态下的功耗以及总的休眠时间等相关数据是否符合设计需求，从而完成对芯片的休眠功能的验证。

主权项：1.一种芯片休眠状态检测方法，其特征在于，包括以下步骤：在预设的第一时间段内，持续检测待检测芯片的电流和电压；根据所述待检测芯片的电流和电压，获得所述待检测芯片的休眠电流和休眠电压；根据所述休眠电流和所述休眠电压，计算所述待检测芯片的休眠时间和休眠功耗；所述根据所述待检测芯片的电流和电压，获得所述待检测芯片的休眠电流和休眠电压的步骤，具体包括：将所述第一时间段划分为n个第二时间段，根据所述待检测芯片的电流和电压，计算每个所述第二时间段内，所述待检测芯片的第二平均电流；所述第一时间段为秒的级别，所述第二时间段为微秒的级别；计算所述第一时间段内，所述待检测芯片的第一平均电流；所述第一平均电流为： 其中，Iavg表示所述第一平均电流；Ii表示第i个所述第二时间段的所述第二平均电流；i和n为正整数；当所述第二平均电流小于所述第一平均电流时，所述待检测芯片在对应的所述第二时间段内处于休眠状态，所述待检测芯片在所述休眠状态下的电流为所述休眠电流，所述待检测芯片在所述休眠状态下的电压为所述休眠电压；所述休眠时间的计算公式为： 其中，TiIiIavg表示当IiIavg时，Ii对应的所述第二时间段的长度；表示休眠时间系数，为常量；Tsleep表示所述休眠时间；所述休眠功耗的计算公式为： Ps＝γst；其中，Ws表示所述休眠功耗，表示功率系数，为常量；表示损失系数，为常量；γst表示根据所述待检测芯片的所述休眠电流和所述休眠电压拟合得到的休眠功率函数；Ps表示休眠功率。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 珠海妙存科技有限公司 芯片休眠状态检测方法和系统、电子设备和存储介质

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