申请/专利权人：珠海芯业测控有限公司

申请日：2024-01-31

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN117665686B

主分类号：G01R35/00

分类号：G01R35/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.09#授权;2024.03.26#实质审查的生效;2024.03.08#公开

摘要：本申请提供了一种基于ATE设备的动态负载校准方法及系统、设备、介质；涉及集成电路测试技术领域。方法包括：将与待测的IO通道单元连接的通道开关闭合，控制其余通道开关保持断开；分别在待测的IO通道单元上施加大小为第一预设理论值的拉电流、大小为第二预设理论值的灌电流并分别获取检测的第一电压、第二电压；根据第一电压、第二电压、第一预设理论值、第二预设理论值、精密电阻的阻值、预设的DAC分辨率、初始DAC值进行计算得到增益值、偏置值、DAC校准值；当校准误差小于或等于预设误差阈值，将增益值和偏置值保存至数据库。能提高对动态负载的校准效率和校准精度，从而提高ATE设备测试被测芯片时的准确性和测试效率。

主权项：1.一种基于ATE设备的动态负载校准方法，其特征在于，应用于动态负载校准系统的上位机；所述动态负载校准系统还包括：与所述上位机通信连接的ATE设备、测量校准模块和数据库；其中，所述ATE设备包括：多块数字通道板；每块所述数字通道板包括：多个引脚电子芯片、多个通道开关；每个所述引脚电子芯片包括：两个待测的IO通道单元；每个所述通道开关对应地连接在一个所述IO通道单元与所述测量校准模块之间；所述测量校准模块包括：并联的测量单元和精密电阻；所述动态负载校准方法包括：将与待测的IO通道单元连接的所述通道开关闭合，并控制其余的所述通道开关保持断开；基于初始DAC值，在所述待测的IO通道单元上施加大小为第一预设理论值的拉电流，并获取所述测量单元检测的第一电压；在所述待测的IO通道单元上施加大小为第二预设理论值的灌电流，并获取所述测量单元检测的第二电压；根据所述第一电压、所述第二电压、所述第一预设理论值、所述第二预设理论值、所述精密电阻的阻值、预设的DAC分辨率进行校准系数计算处理，得到校准系数；其中，所述校准系数包括增益值和偏置值；根据预设校准公式对所述增益值、所述偏置值、预设的DAC分辨率、初始DAC值进行校准值计算处理，得到DAC校准值；基于所述DAC校准值，在所述待测的IO通道单元上进行校准误差测试，得到校准误差；当所述校准误差小于或等于预设误差阈值，将所述增益值和所述偏置值保存至所述数据库，结束对所述待测的IO通道单元进行的校准处理；其中，当计算的所述校准系数为所述增益值；所述根据所述第一电压、所述第二电压、所述第一预设理论值、所述第二预设理论值、所述精密电阻的阻值、预设的DAC分辨率进行校准系数计算处理，得到校准系数，包括：根据欧姆定律，对所述第一电压和所述精密电阻的阻值进行计算得到第一实际电流值，对所述第二电压和所述精密电阻的阻值进行计算得到第二实际电流值；计算所述第一预设理论值和所述第二预设理论值之间的第一差值、所述第一实际电流值和所述第二实际电流值之间的第二差值；根据预设的增益值计算公式对所述DAC分辨率、第一比值进行计算，得到所述增益值；其中，所述第一比值由所述第一差值除以所述第二差值得到；当计算的所述校准系数为所述偏置值；所述根据所述第一电压、所述第二电压、所述第一预设理论值、所述第二预设理论值、所述精密电阻的阻值、预设的DAC分辨率进行校准系数计算处理，得到校准系数，包括：获取当前在测的所述引脚电子芯片的理论电流量程和最小电流理论值；将第二比值与所述理论电流量程相乘，得到实际满量程范围；其中，所述第二比值由所述第二差值除以所述第一差值得到；根据所述第一实际电流值、所述第一预设理论值和所述实际满量程范围进行电流计算处理，得到输入代码为0x0000时的初始电流实际值；根据所述实际满量程范围、所述第二比值、预设的DAC分辨率进行LSB计算处理，得到实际最低有效位；根据预设的偏置值计算公式对所述DAC分辨率、所述最小电流理论值与所述初始电流实际值之间的第三差值、所述实际最低有效位进行计算，得到所述偏置值；所述预设校准公式为： ；其中，为所述DAC校准值；为所述初始DAC值；为所述增益值；为所述偏置值；为DAC分辨率。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 珠海芯业测控有限公司 基于ATE设备的动态负载校准方法及系统、设备、介质

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