申请/专利权人：泰克元有限公司

申请日：2017-09-08

公开（公告）日：2024-04-09

公开（公告）号：CN112595922B

主分类号：G01R31/01

分类号：G01R31/01;B07C5/34;B07C5/36

优先权：["20160909 KR 10-2016-0116620","20170103 KR 10-2017-0000801"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.09#授权;2021.04.23#实质审查的生效;2021.04.02#公开

摘要：本发明涉及一种用于测试电子部件的分选机。根据本发明的用于测试电子部件的分选机包括：移动腔室，可以收容堆载有电子部件的测试托盘，且沿着预定的移动路径移动。并且，移动腔室可以包括：第一腔室部分，用于调节堆载于测试托盘的电子部件的温度；第二腔室部分，用于使堆载于测试托盘的电子部件的温度恢复至常温。根据本发明，通过构成移动腔室而能够以单元形式配置多个测试窗口，因此可大幅缩小相对于处理容量的设置空间，并通过将一个腔室分为两个来另行设置其功能，可以最小化设置面积。

主权项：1.一种用于测试电子部件的分选机，其特征在于，包括：移动腔室，能够收容堆载有电子部件的测试托盘，且沿着预定的移动路径移动；移送器，在所述移动路径上移送所述移动腔室；连接器，配置于所述移动路径的至少一侧，以能够从所述移动腔室接收测试托盘或向所述移动腔室提供测试托盘，并且，使电子部件与结合于测试窗口的测试器电连接或者解除连接，以能够进行对堆载于测试托盘的电子部件的电学特性测试；以及至少一个移动装置，使测试托盘在所述移动腔室与所述连接器之间移动，所述移动腔室，包括：第一腔室部分，用于调节堆载于测试托盘的电子部件的温度；以及第二腔室部分，沿上下方向与所述第一腔室部分并排配置，使堆载于测试托盘的电子部件的温度恢复至常温。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 泰克元有限公司 用于测试电子部件的分选机

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