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【发明公布】基于DEM与高分辨率光学遥感数据的岩层产状提取方法_云南省地质环境监测院(云南省环境地质研究院);云南国土资源职业学院_202310598149.3 

申请/专利权人:云南省地质环境监测院(云南省环境地质研究院);云南国土资源职业学院

申请日:2023-05-25

公开(公告)日:2024-04-05

公开(公告)号:CN117830203A

主分类号:G06T7/00

分类号:G06T7/00;G06T7/60;G06T7/62;G06T7/13;G06T5/20;G06T17/05;G06F40/18

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.23#实质审查的生效;2024.04.05#公开

摘要:本发明涉及基础地质综合遥感研究领域,具体涉及基于DEM与高分辨率光学遥感数据的岩层产状提取方法,基于DEM与高分辨率光学遥感数据的岩层产状提取方法。主要内容包括:根据研究区的DEM数据利用计算机自动提取相应精度的等高线;根据研究区高分辨率光学遥感数据自动提取岩层分界线并进行人工修正;提取岩层分界线与等高线交点数据;自动提取某岩层面与相邻两条等高线之间交点数大于等于3的交点数据;利用三点共面方法计算不同岩层面倾向、倾角参数;对研究区各岩层面沿分界线标注各点产状并以图或表格形式输出;高效快速获取大面积范围内的岩层产状数据;并以图形或表格形式输出利于进一步分析利用。

主权项:1.基于DEM与高分辨率光学遥感数据的岩层产状提取方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:收集研究区数据提取岩层分界线与等高线交点数据;S2:自动提取某岩层面与相邻两条等高线之间交点数大于等于3的交点数据;S3:利用三点共面方法计算不同岩层面产状获取倾向、倾角参数;S4:对研究区各岩层面沿分界线标注各点产状并以图或表格形式输出。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 云南省地质环境监测院(云南省环境地质研究院);云南国土资源职业学院 基于DEM与高分辨率光学遥感数据的岩层产状提取方法

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