申请/专利权人：中国计量大学

申请日：2023-06-14

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN117825350A

主分类号：G01N21/65

分类号：G01N21/65;C23C14/35;C23C14/12;C23C18/42;C23C28/00;G02B6/255;B82Y40/00;B82Y30/00;G01N21/64

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.23#实质审查的生效;2024.04.05#公开

摘要：本发明提供了基于Teflon和金纳米星的SERS荧光双模式光纤检测器及制备方法。双模式光纤检测器主要由输入输出多模光纤、锥形光纤、Teflon膜、金纳米星膜组成。双模式光纤检测器件的制备方法包括：Ⅰ电弧放电、加热熔融法加工多模光纤，得到锥形光纤；Ⅱ超声清洗锥形光纤去除表面灰尘；Ⅲ采用磁控溅射镀膜方式对锥形光纤的半侧面镀Teflon膜；Ⅳ采用化学镀的方式在所述锥形光纤空白半侧面组装金纳米星膜，即制备得到了基于Teflon和金纳米星的SERS荧光双模式光纤检测器。本发明能够实现表面增强拉曼和荧光信号的双模式检测，体积小并且侵入性损伤低，收集的光谱信息全面并且信噪比高。用于内窥镜系统中时，有望实现体内生物标志物的痕量、原位和实时检测。

主权项：1.基于Teflon和金纳米星的SERS荧光双模式光纤检测器的制备方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：Ⅰ电弧放电、加热熔融法加工多模光纤，得到锥形光纤；Ⅱ超声清洗锥形光纤去除表面灰尘；Ⅲ采用磁控溅射镀膜方式对锥形光纤的半侧面镀Teflon膜；Ⅳ采用化学镀的方式在所述锥形光纤空白半侧面组装金纳米星膜；即制备得到了基于Teflon和金纳米星的SERS荧光双模式光纤检测器。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国计量大学 基于Teflon和金纳米星的SERS荧光双模式光纤检测器及制备方法

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