申请/专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所

申请日：2023-12-19

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN117824495A

主分类号：G01B11/00

分类号：G01B11/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.23#实质审查的生效;2024.04.05#公开

摘要：一种微弱脉冲光斑横向位置测量的方法，该方法包括脉冲激光器，分束镜，相机，光电探测器转换板，信号处理板，计算机，使用光电探测器转换板对脉冲激光器输出的微弱窄脉宽信号进行高速光电转换，同时将脉冲激光器的输出的微弱窄脉宽信号的脉冲宽度展宽及脉冲幅度轨到轨放大；当信号处理板接收到输入的脉冲数量等于设置的值后，对相机进行硬件信号触发，并连续采集多幅图像画面，通过脉冲光斑横向位置计算公式来完成脉冲光斑横向位置的测量。本发明实现了对高重复频率微弱脉冲光斑横向位置的实时检测需求，准确的提高了脉冲光斑横向位置的测量精度，并且具有良好的测量重复性。

主权项：1.一种微弱脉冲光斑横向位置的测量方法，其特征在于，包括步骤：S1.使用光电探测器转换板获得窄脉宽信号，并对脉冲宽度展宽及脉冲幅度轨到轨放大，信号处理板将接收到输入脉冲数量和脉冲宽度对相机进行硬件触发从而对脉冲数量与相机积分时间及增益值进行标定；S2.使用光电探测器转换板获得窄脉宽信号，并对脉冲宽度展宽及脉冲幅度轨到轨放大,根据脉冲数量和脉冲宽度与相机积分时间和增益值的标定结果，计算机上位机软件通过硬件交互命令，对信号处理板的信号输入端输入的脉冲数量设置，当信号处理板接收到输入脉冲数量等于设置的值后，对相机进行硬件触发，并连续采集n幅图像画面；S3、计算脉冲光斑横向位置坐标PX,PY，公式如下： 式中，Ii,j为图像像素灰度值，i，j分别为每个像素对应的y坐标和x坐标。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院上海光学精密机械研究所 一种微弱脉冲光斑横向位置的测量方法

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