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【发明公布】一种MicroLED直显模组外观缺陷的检测方法_佛山市龙为智能装备有限公司_202410011220.8 

申请/专利权人:佛山市龙为智能装备有限公司

申请日:2024-01-04

公开(公告)日:2024-04-05

公开(公告)号:CN117830268A

主分类号:G06T7/00

分类号:G06T7/00;G06T7/11;G06N3/08

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.23#实质审查的生效;2024.04.05#公开

摘要:本发明公开了一种MicroLED直显模组外观缺陷的检测方法,属于LED检测技术领域。包括:步骤S1:采用相机采集图像;步骤S2:利用相机采集的图像分别训练Tag2Text,G‑DINO,SAM大模型;步骤S3:利用训练出来的大模型对输入的采集图像进行推理;步骤S4:解析推理的数据信息,提取轮廓区域;步骤S5:采用视觉算法对提取的轮廓区域进行缺陷的检测与判断。本发明的优势在于,相比于现有技术:本申请采用Tag2Text,G‑DINO,SAM的AI工具训练大模型,替代传统的神经网络小模型进行MicroLED直显模组外观缺陷的检测,能够进一步提升AVI设备的检测直通率;并降低现有模型对数据标注和样本量的依赖,实现小样本学习和接近零样本迁移;累积大数据,建立MLED行业大模型,实现MLED检测的工业化。

主权项:1.一种MicroLED直显模组外观缺陷的检测方法,其特征在于,包括:步骤S1:采用相机采集图像;步骤S2:利用相机采集的图像分别训练Tag2Text,G-DINO,SAM大模型;步骤S3:利用训练出来的大模型对输入的采集图像进行推理;步骤S4:解析推理的数据信息,提取轮廓区域;步骤S5:采用视觉算法对提取的轮廓区域进行缺陷的检测与判断。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 佛山市龙为智能装备有限公司 一种MicroLED直显模组外观缺陷的检测方法

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