申请/专利权人：上海合见工业软件集团有限公司

申请日：2024-03-01

公开（公告）日：2024-04-05

公开（公告）号：CN117829044A

主分类号：G06F30/33

分类号：G06F30/33;G06F30/367

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.23#实质审查的生效;2024.04.05#公开

摘要：本申请涉及电数字数据处理技术领域，特别是涉及一种EDA约束检测系统。其包括存储器，存储器存储有约束树，nodei的数据域存储有nodei对应的typei和namei；如果nodei为内部节点，则nodei的指针域存储有nodei,+和nodei,‑；系统包括的计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：获取待检测电子约束的type’和name’；根据type’和name’在约束树中进行匹配，获取匹配的节点node’；如果node’的数据域没有存储约束条件且node’+的数据域存储有约束条件，则将node’+的数据域存储的约束条件确定为待检测电子约束的约束条件。本发明能减少约束数据占用的存储空间。

主权项：1.一种EDA约束检测系统，其特征在于，所述系统包括存储器，所述存储器存储有电子器件约束树，所述电子器件约束树包括n个节点，其中第i个节点为nodei，i的取值范围为1到n，nodei的数据域存储有nodei对应的电子约束的类型typei和名称namei，如果nodei为根节点，则nodei的指针域存储有nodei的孩子节点nodei,-；如果nodei为叶子节点，则nodei的指针域存储有nodei的父节点nodei,+；如果nodei为内部节点，则nodei的指针域存储有nodei的父节点nodei,+和nodei的孩子节点nodei,-；所述系统还包括处理器和存储有计算机程序的存储介质，当所述计算机程序被处理器执行时，实现以下步骤：S100，获取待检测的电子约束的类型type’和名称name’；S200，根据type’和name’在所述电子器件约束树中进行匹配，获取匹配的节点node’；S300，如果node’的数据域没有存储约束条件且node’+的数据域存储有约束条件，则将node’+的数据域存储的约束条件确定为待检测的电子约束的约束条件；node’+为node’的指针域存储的父节点。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海合见工业软件集团有限公司 一种EDA约束检测系统

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