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【发明授权】车规级芯片的ASIC毫米波雷达算法测试方法、装置、介质_珠海微度芯创科技有限责任公司_202311277187.5 

申请/专利权人:珠海微度芯创科技有限责任公司

申请日:2023-09-28

公开(公告)日:2024-04-05

公开(公告)号:CN117389870B

主分类号:G06F11/36

分类号:G06F11/36

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.05#授权;2024.01.30#实质审查的生效;2024.01.12#公开

摘要:本申请公开一种车规级芯片的ASIC毫米波雷达算法测试方法、装置、介质,方法包括:伪随机数产生器将第二伪随机数输入ASIC算法处理模块得到第二计算结果;硬件比较器根据第一计算结果和第二计算结果确定第一算法测试结果;当测试通过,ASIC算法处理模块根据ADC数据得到第三计算结果并将其存至内存控制器;伪随机数产生器重新生成第二伪随机数并输入ASIC算法处理模块得到第四计算结果;硬件比较器根据第一计算结果和第四计算结果确定第二算法测试结果;当测试通过,内存控制器将第三计算结果发至主控制器。在单份算法模块上增加逻辑资源小的伪随机数产生器和硬件比较器实现算法测试,相比用两份算法模块的方案,降低测试成本。

主权项:1.一种车规级芯片的ASIC毫米波雷达算法测试方法,其特征在于,应用于ASIC毫米波雷达算法测试装置,所述ASIC毫米波雷达算法测试装置包括SOC芯片和主控制器,所述SOC芯片包括ADC数据采集模块、ASIC算法处理模块、内存控制器和SOC控制器,所述ASIC算法处理模块预置有毫米波雷达算法,所述SOC控制器通过所述主控制器与个人电脑PC通信连接,所述PC部署有应用程序,所述应用程序预置有所述毫米波雷达算法,所述ASIC算法处理模块的输入端设置有伪随机数产生器,所述ASIC算法处理模块的输出端设置有硬件比较器,所述硬件比较器存储有所述应用程序根据第一伪随机数计算得到的第一计算结果,所述方法包括:所述伪随机数产生器根据预设ADC时序生成第二伪随机数,并将所述第二伪随机数输入至所述ASIC算法处理模块进行处理,得到第二计算结果,其中,所述第二伪随机数与所第一伪随机数相同;所述ASIC算法处理模块将所述第二计算结果输入至所述硬件比较器,所述硬件比较器根据所述第一计算结果和所述第二计算结果确定第一算法测试结果;当所述第一算法测试结果表征所述ASIC算法处理模块测试成功,所述ADC数据采集模块向所述ASIC算法处理模块发送ADC数据,所述ASIC算法处理模块对所述ADC数据进行处理得到第三计算结果,并将所述第三计算结果保存至所述内存控制器;在所述ASIC算法处理模块将所述第三计算结果保存至所述内存控制器之后,所述伪随机数产生器重新生成所述第二伪随机数,并将所述第二伪随机数输入至所述ASIC算法处理模块进行处理,得到第四计算结果;所述ASIC算法处理模块将所述第四计算结果输入至所述硬件比较器,所述硬件比较器根据所述第一计算结果和所述第四计算结果确定第二算法测试结果;当所述第二算法测试结果表征所述ASIC算法处理模块测试成功,所述内存控制器将所述第三计算结果通过所述SOC控制器发送至所述主控制器。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 珠海微度芯创科技有限责任公司 车规级芯片的ASIC毫米波雷达算法测试方法、装置、介质

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