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【发明公布】基于光纤应变监测的炸药柱内部残余应力剥层测试方法_中国工程物理研究院化工材料研究所_202410042186.0 

申请/专利权人:中国工程物理研究院化工材料研究所

申请日:2024-01-11

公开(公告)日:2024-04-12

公开(公告)号:CN117870933A

主分类号:G01L5/00

分类号:G01L5/00;G01L1/24

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要:本发明公开了一种基于光纤应变监测的炸药柱内部残余应力剥层测试方法,具体步骤包括在炸药柱底部环向和侧面轴向等间距粘贴应变光纤,沿炸药柱轴向机械剥除至一定深度,待光纤应变信号稳定后再进行下一次剥层操作,记录多次剥层去除材料产生的环向和径向应变信号,利用有限元分析建立剥层过程应变变化关于内部残余应力的响应面函数,最后基于实测应变与响应面函数反推初始残余应力的三维分布情况。本发明结合了残余应力剥层法和光纤应变监测技术,可以实现对炸药件表层、内部残余应力的测试,提高了检测的安全性,检测效率高,结果准确可靠。

主权项:1.一种基于光纤应变监测的炸药柱内部残余应力剥层测试方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,在圆柱样品的底部和侧边进行应变光纤的贴片操作;步骤2,从圆柱顶部开始机械剥除样品指定深度;步骤3,多次重复剥层和应变记录过程,直到样品剥离至最后一层,每次剥层的过程中均记录光纤测量的相应数据;步骤4,利用有限元对应力形成过程进行模拟,获得初始响应面函数;步骤5,通过实验数据与模拟结果进行对比,反演获得原样品残余应力的内部分布情况。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国工程物理研究院化工材料研究所 基于光纤应变监测的炸药柱内部残余应力剥层测试方法

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