申请/专利权人：厦门腾睿微电子科技有限公司

申请日：2023-11-10

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117872008A

主分类号：G01R31/00

分类号：G01R31/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要：本发明公开了一种驱动芯片共模瞬态抗扰度的测试方法，包括：单片机控制CMTI测试电路产生的CMTI测试信号，并将该CMTI测试信号输入到驱动芯片的高侧浮动电源偏移电压端口；驱动芯片输出端向比较器输出信号；比较器将输出信号与参考信号进行比较，并将比较结果发送至单片机；单片机根据比较结果判断驱动芯片是否正常工作；若驱动芯片正常工作，则单片机控制所述CMTI测试电路产生变化值增大的CMTI测试信号，直至获得驱动芯片可容忍的最大变化值，并将驱动芯片可容忍的最大变化值输出；若驱动芯片失效，则单片机控制所述CMTI测试电路产生变化值减小的CMTI测试信号。

主权项：1.一种使用驱动芯片共模瞬态抗扰度测试系统进行驱动芯片共模瞬态抗扰度的测试方法，其特征在于，所述驱动芯片共模瞬态抗扰度测试系统包括：驱动芯片，其通过输出端口输出信号；CMTI测试电路，其与所述驱动芯片的高侧浮动电源偏移电压端口连接，用于产生不同变化值的CMTI测试信号；比较器，其两个输入端分别与所述驱动芯片的输出端及参考信号连接，用于对所述驱动芯片输出端的输出信号与参考信号进行比较，并输出比较结果；单片机，其分别与所述比较器的输出端及所述CMTI测试电路连接；该测试方法包括如下步骤：a、单片机控制CMTI测试电路产生的CMTI测试信号，并将该CMTI测试信号输入到驱动芯片的高侧浮动电源偏移电压端口；b、驱动芯片输出端向比较器输出信号；c、比较器将输出信号与参考信号进行比较，并将比较结果发送至单片机；d、单片机根据比较结果判断驱动芯片是否正常工作；e、若驱动芯片正常工作，则单片机控制所述CMTI测试电路产生变化值增大的CMTI测试信号，并返回步骤b，直至获得驱动芯片可容忍的最大变化值，并将驱动芯片可容忍的最大变化值输出；f、若驱动芯片失效，则单片机控制所述CMTI测试电路产生变化值减小的CMTI测试信号，并返回步骤b。

全文数据：

权利要求：

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