申请/专利权人：四川大学

申请日：2023-10-12

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117870878A

主分类号：G01J9/00

分类号：G01J9/00;G01J1/42

优先权：["20231004 CN 202311288371X"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开

摘要：本发明属于光学测量技术领域，公开了一种基于量子弱测量的波前复原方法，采用量子弱测量的光强测量装置测量光强；确定相位的余弦包裹；依次利用傅里叶变换和傅里叶逆变换，将相位的余弦包裹转换为正切包裹，并解相位包裹得到相位微分；依据相位在两个垂直方向的偏微分，通过微分拟合算法得到复原后的相位。本发明对测量结果的解包裹的过程，扩大了待测波前的相位梯度的范围；且仅通过一次测量即可得到结果，操作更加简单。

主权项：1.一种基于量子弱测量的波前复原方法，其特征在于，包括以下步骤：S1采用基于量子弱测量的光强测量装置测量光强Ix,y；S2确定相位的余弦包裹 式中，j＝xory，代表微分方向；当时，aj2由读取CCD中光强分布的最大值得到，或者取入射光强度的一半；S3依次利用傅里叶变换和傅里叶逆变换，将相位的余弦包裹转换为正切包裹，并解相位包裹得到j方向的相位微分Δbjx,y；S4依据得到的微分相位，通过微分拟合算法得到复原后的相位。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 四川大学 基于量子弱测量的波前复原方法

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