申请/专利权人：卡尔蔡司显微镜有限责任公司

申请日：2019-11-13

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN111189807B

主分类号：G01N21/64

分类号：G01N21/64;G02B21/00

优先权：["20181114 DE 102018128590.6"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权;2021.12.03#实质审查的生效;2020.05.22#公开

摘要：使用光学操纵装置来影响发射荧光辐射的样品的成像的点扩散函数以使得点发射器在图像平面中成像为具有至少两个图像波瓣的所成像出的点发射器表征图像。图像波瓣的相对位置取决于点发射器相对于焦平面的位置和或由点发射器发射的荧光辐射的波长。产生比检测器的像素更小且坐落更密集的合成像素。对于每个合成像素，在检测器的像素中定义多对像素组或单独像素，每对像素被指派参数的单独值。在每个帧中对所定义的每个合成像素确定信号相关性并将信号相关性作为图像亮度分配给合成像素。从合成像素产生每个帧的子帧，子帧基于相同的闪烁状态，并且已经相对于点扩散函数的影响进行了校正。随后从子帧产生高分辨率样品图像。

主权项：1.一种用于产生样品2的高分辨率图像的基于波动的荧光显微术方法，其中，所述方法包括以下步骤：a向所述样品2提供在激发之后以闪烁方式发射荧光辐射的物质，或者使用含有这样的物质的样品2，b用照明辐射照射所述样品2，并且因此激发所述样品2以发射所述荧光辐射，c将发射所述荧光辐射的所述样品2从焦平面3成像到包括像素30的空间分辨检测器8上，并且产生在所述样品2的闪烁状态方面不同的帧的图像序列，和d评估所述图像序列，并且产生高分辨率样品图像，其中，在步骤c中，根据参数而光学地影响发射所述荧光辐射的所述样品2的成像，其中，所述参数是相对于所述焦平面3的位置和或所发射的荧光辐射的波长，并且所述影响促使每个帧中的点发射器成像为所成像出的点发射器表征图像，该所成像出的点发射器表征图像在每种情况下具有至少两个图像波瓣，所述至少两个图像波瓣的相对位置取决于所述参数，并且在步骤d中，基于取决于所述参数的影响而产生每个帧的子帧，所述子帧在所述参数方面被指定，并且基于所述子帧而执行帧的图像序列的评估。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 基于波动的荧光显微术

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