申请/专利权人：深圳沃特检验集团股份有限公司

申请日：2023-12-15

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117406008B

主分类号：G01R31/00

分类号：G01R31/00;H04M1/24

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权;2024.03.22#著录事项变更;2024.02.02#实质审查的生效;2024.01.16#公开

摘要：本发明涉及测试的技术领域，公开了一种射频传导抗扰度测试方法、装置、设备及存储介质，本发明构建了一种采用测试单元和若干模拟单元的测试装置，通过对各个待测场景数据的计算，以获取各个模拟单元的模拟参数，根据模拟参数控制模拟单元与测试单元的相对位置关系以及模拟单元的运行强度，可以对测试单元进行不同待测场景数据的模拟测试，从而能够采集待测设备在待测场景中的运行状况，以展示待测设备的射频传导抗扰性能，解决了现有技术中无法直观地向顾客展示电子设备的射频传导抗扰性能的问题。

主权项：1.一种射频传导抗扰度测试方法，其特征在于，包括：获取待测设备的待测场景数据，并基于所述待测场景数据进行测试装置中各个模拟单元的模拟参数的计算；所述测试装置包括测试单元和若干模拟单元，所述测试单元用于放置所述待测设备，各个所述模拟单元环绕所述测试单元设置，用于根据所述模拟参数对所述测试单元产生射频电磁场，以对所述测试单元中放置的所述待测设备进行所述待测场景数据的模拟测试；所述待测场景数据的获取包括：建立定位坐标网格，并根据用户提供的数据在所述定位坐标网格上生成若干干扰源和设备使用区域；将所述设备使用区域划分为若干待测区域，将各个所述待测区域分别与各个所述干扰源进行组合，以生成若干待测场景数据；基于所述待测场景数据进行测试装置中各个模拟单元的模拟参数的计算的步骤包括：根据所述待测场景数据，对所述定位坐标网格中的各个所述干扰源分别进行所述干扰源在所述待测区域产生的射频电磁场强度的计算；根据所述测试装置中所述测试单元与各个所述模拟单元之间的位置关系生成测试模拟模型，并将所述测试模拟模型的测试单元与所述定位坐标网格的待测区域进行重叠，对所述测试模拟模型中各个所述模拟单元分别进行模拟参数的计算，以令各个所述模拟单元在所述测试单元处产生各个所述干扰源在所述待测区域产生的射频电磁场强度；驱动设置在所述测试单元的所述待测设备进行运行，并驱动各个所述模拟单元按所述模拟参数对所述测试单元产生射频电磁场，以对所述测试单元中放置的所述待测设备进行所述待测场景数据的模拟测试；持续对所述待测设备的运行状态的数据进行采集，并根据采集到的运行状态的数据生成所述待测设备的射频传导抗扰度的评估图谱。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳沃特检验集团股份有限公司 射频传导抗扰度测试方法、装置、设备及存储介质

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