申请/专利权人：芯弦半导体(苏州)有限公司

申请日：2023-12-28

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117607666B

主分类号：G06F7/58

分类号：G06F7/58;G06F30/333

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权;2024.03.15#实质审查的生效;2024.02.27#公开

摘要：本发明公开了一种伪随机测试参数生成方法、老化测试方法及扫描链电路，所述伪随机测试参数生成方法包括：初始化扫描链电路，至少产生一输出值；获取所述扫描链电路的前一次输出值，并对所述前一次输出值执行包含二进制位级变换操作的位运算方法，得到所述扫描链电路的本次输出值；重复执行位级变换操作，直至达到预设时间阈值，以当前输出值作为伪随机测试参数。本发明通过重复使用前一次扫描链电路的输出值以及位级变换操作，自动生成扫描链电路的伪随机数输入参数，它代替真正的随机数不仅可以模拟实际应用中可能出现的各种输入情况，从而增加测试的覆盖率；而且还能提高测试的自动化程度、减少人工干预、提高测试效率。

主权项：1.一种伪随机测试参数生成方法，其特征在于，所述伪随机测试参数生成方法应用于扫描链电路中，所述方法包括：初始化扫描链电路，至少产生一输出值；获取所述扫描链电路的前一次输出值，并对所述前一次输出值执行包含二进制位级变换操作的位运算方法，得到所述扫描链电路的本次输出值；重复执行位级变换操作，直至达到预设时间阈值，以当前输出值作为伪随机测试参数；其中，所述位运算方法包括移位运算策略和逻辑运算策略；所述“对所述前一次输出值执行包含二进制位级变换操作的位运算方法，得到所述扫描链电路的本次输出值”具体包括：基于所述移位运算策略，确定当前移位运算操作，对所述前一次输出值执行当前移位操作，得到当前移位中间值；基于所述逻辑运算策略，确定当前逻辑运算操作，对所述当前移位中间值和所述前一次输出值执行当前逻辑运算操作，得到所述扫描链电路的本次输出值。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 芯弦半导体(苏州)有限公司 伪随机测试参数生成方法、老化测试方法及扫描链电路

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