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【发明授权】检查装置、包装薄片制造装置及包装薄片制造方法_CKD株式会社_202080031346.1 

申请/专利权人:CKD株式会社

申请日:2020-03-23

公开(公告)日:2024-04-12

公开(公告)号:CN113748332B

主分类号:G01N23/04

分类号:G01N23/04

优先权:["20190527 JP 2019-098336"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.12#授权;2021.12.21#实质审查的生效;2021.12.03#公开

摘要:[课题]提供一种可抑制检查效率降低且能更可靠地担保检查质量的均一性的检查装置等。一边照射可穿透PTP薄膜9的X射线,一边根据X射线传感器52a取得基于已穿透PTP薄膜9的X射线的X射线穿透图像,基于该X射线穿透图像执行检查。X射线穿透图像的取得,为以朝X射线的照射源的对向侧凸出的方式使PTP薄膜9弯曲,并以维持着PTP薄膜9的弯曲形状的状态下进行。X射线传感器52a被设为沿着PTP薄膜9的形状的弯曲形状。由此,可抑制照射于PTP薄膜9的各位置的电磁波强度的不均等。其结果,X射线穿透图像在各位置更为均质。

主权项:1.一种检查装置,为在制造带状的包装薄膜并将该包装薄膜切离以获得包装薄片时使用,该带状的包装薄膜安装有由不透明材料所成的带状的第1薄膜及由不透明材料所成的带状的第2薄膜,且在该两薄膜间所形成的收容空间内收容有内容物,其特征为,具备:电磁波照射机构,具有从前述第1薄膜侧对所搬送的前述包装薄膜照射能穿透前述包装薄膜的电磁波的照射源而构成;拍摄机构,具有隔着前述包装薄膜和前述电磁波照射机构对向的方式配置在前述第2薄膜侧并能检测穿透前述包装薄膜的电磁波的检测部,取得依据穿透前述包装薄膜的电磁波的电磁波穿透图像;图像处理机构,依据根据前述拍摄机构所取得的电磁波穿透图像,能执行前述包装薄片的检查,且具有:变形机构,沿着前述包装薄膜的搬送路径配设在比前述电磁波照射机构靠上游处,以朝前述电磁波照射机构的前述照射源的对向侧凸出的方式弯曲前述包装薄膜;变形状态维持机构,沿着前述搬送路径配设在比前述电磁波照射机构靠下游处,且在至少被照射来自前述电磁波照射机构的电磁波的位置,能维持根据前述变形机构所弯曲的前述包装薄膜的形状,前述拍摄机构的前述检测部为呈沿着前述包装薄膜的弯曲形状的弯曲形状,还具备复原机构,其沿着前述搬送路径配设在比前述变形状态维持机构还靠下游处,用以将前述包装薄膜恢复成扁平状态,前述复原机构具备能旋转且外径沿着旋转轴方向呈一定的直辊,该直辊的外周面构成为,通过和前述包装薄膜接触以将该包装薄膜恢复成扁平状态。

全文数据:

权利要求:

百度查询: CKD株式会社 检查装置、包装薄片制造装置及包装薄片制造方法

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