申请/专利权人：株式会社日本显示器

申请日：2020-09-22

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN112635445B

主分类号：H01L25/075

分类号：H01L25/075;H01L27/15;H01L33/48;G09F9/33

优先权：["20190924 JP 2019-173422"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权;2021.04.27#实质审查的生效;2021.04.09#公开

摘要：本发明涉及显示装置的修补方法，即使在发生了不良的情况下也能够适当地使用。修补方法为具备排列为矩阵状的多个无机发光体和在无机发光体的周围设置的绝缘体的显示装置的修补方法，包括下述步骤：检测步骤S14，对变得不良的无机发光体即不良无机发光体进行检测；绝缘体除去步骤S18，向不良无机发光体的周围的绝缘体照射照射光，在保留不良无机发光体而不将其除去的状态下，将不良无机发光体的周围的绝缘体除去；和无机发光体除去步骤S20，将周围的绝缘体被除去了的不良无机发光体除去。

主权项：1.显示装置的修补方法，所述显示装置具备排列为矩阵状的多个无机发光体和在所述无机发光体的周围设置的绝缘体，所述显示装置的修补方法包括下述步骤：检测步骤，对变得不良的所述无机发光体即不良无机发光体进行检测；绝缘体除去步骤，向所述不良无机发光体的周围的所述绝缘体照射照射光，在保留所述不良无机发光体而不将其除去的状态下，将所述不良无机发光体的周围的所述绝缘体除去；和无机发光体除去步骤，将周围的所述绝缘体被除去了的所述不良无机发光体除去，所述照射光是波长为216nm以上且316nm以下的激光。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 株式会社日本显示器 显示装置的修补方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD