申请/专利权人：全智芯(上海)技术有限公司

申请日：2024-01-26

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN117648895B

主分类号：G06F30/333

分类号：G06F30/333;G06F119/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权;2024.03.22#实质审查的生效;2024.03.05#公开

摘要：一种失效分析方法及装置、计算机可读存储介质、终端，所述方法包括：确定DFT诊断数据；根据所述DFT诊断数据，确定各个目标组合的分数，其中，所述目标组合包含各种疑似失效的类型和位置的组合；基于各个硬件节点的各个目标组合的分数，采用路径推理模型确定每个目标组合的分布概率；根据所述分布概率，确定第一失效分析结果。本发明可以使用户快速定位到失效位置进行分析，有效提高失效分析的效率和准确性。

主权项：1.一种失效分析方法，其特征在于，包括：确定DFT诊断数据，所述DFT诊断数据包含疑似失效的硬件节点的疑似失效的路径，每个路径的疑似失效的位置组的组信息，每个组信息包括该位置组包含的疑似失效的位置和类型；根据所述DFT诊断数据，确定各个目标组合的分数，其中，所述目标组合包含各种疑似失效的类型和位置的组合；基于各个硬件节点的各个目标组合的分数，采用路径推理模型确定每个目标组合的分布概率；根据所述分布概率，确定第一失效分析结果；其中，所述路径推理模型采用贝叶斯推论；所述采用路径推理模型确定每个目标组合的分布概率，包括：采用贝叶斯推论进行多轮推论，在每轮推论中确定第一商值集合，其中，所述第一商值集合中的每个第一商值用于指示单个目标组合，且为该目标组合在疑似失效的各个硬件节点下的分数之和与总分数的商值，所述总分数为疑似失效的各个硬件节点的各个目标组合的分数之和；针对每个目标组合，确定各轮推论中的第一商值，并计算第一商值的均值，作为该目标组合的所述分布概率。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 全智芯(上海)技术有限公司 失效分析方法及装置、计算机可读存储介质、终端

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