申请/专利权人：深圳金美新材料科技有限公司

申请日：2023-09-15

公开（公告）日：2024-04-12

公开（公告）号：CN220772078U

主分类号：G01B5/02

分类号：G01B5/02;B26D7/27

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.12#授权

摘要：本实用新型公开了一种薄膜幅宽测量装置及分切复卷设备，其中，薄膜幅宽测量装置包括支撑架和测量件，支撑架包括第一定位部、第二定位部以及沿第一方向延伸的第一支撑部，第一定位部和第二定位部设置于第一支撑部，且第一定位部和第二定位部至少之一沿第一方向往复移动；测量件设置于支撑架上并沿第一方向延伸，测量件的长度方向设置有刻度线。本实用新型解决了测量导电薄膜的幅宽时，工人的劳动量较大，且测量效率低下的问题。

主权项：1.一种薄膜幅宽测量装置，其特征在于，包括：支撑架，所述支撑架包括第一定位部10、第二定位部20以及沿第一方向延伸的第一支撑部30，所述第一定位部10和所述第二定位部20设置于所述第一支撑部30，且所述第一定位部10和所述第二定位部20至少之一沿所述第一方向往复移动；测量件40，所述测量件40设置于所述支撑架上并沿所述第一方向延伸，所述测量件40的长度方向设置有刻度线。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳金美新材料科技有限公司 薄膜幅宽测量装置及分切复卷设备

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