申请/专利权人：东莞市钜欣电子有限公司

申请日：2024-01-23

公开（公告）日：2024-04-23

公开（公告）号：CN117607679B

主分类号：G01R31/327

分类号：G01R31/327

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.23#授权;2024.03.15#实质审查的生效;2024.02.27#公开

摘要：本发明公开了一种薄膜开关的性能检测方法、系统、处理器和存储介质，包括提供触控模拟器和电容测量装置并同步设置；触控模拟器运行以进行模拟触控操作，通过电容测量装置获取电容变化信号；设定电容变化的若干个触发阈值区间，并读取对应的触发阈值区间的触控强度变化值，以得到每个触发阈值区间内的变化幅度；对获取的电容变化信号进行频率分析，根据电容变化频率和变化幅度，以识别薄膜开关的触觉反应特征，评估薄膜开关的触觉灵敏度和一致性的结果；通过触控模拟和电容测量集成，能够综合考量薄膜开关在不同触控强度下的性能，捕捉到更复杂的触觉反应特性，从而克服了现有技术只关注单一性能指标的局限，提高了测试的精准度和全面性。

主权项：1.一种薄膜开关的性能检测方法，其特征在于，包括：提供触控模拟器和电容测量装置，将触控模拟器与所述电容测量装置同步设置；所述同步设置过程包括确定触控模拟器的工作参数，使之匹配电容测量装置的检测频率；触控模拟器运行以进行模拟触控操作，通过电容测量装置获取电容变化信号；分析薄膜开关的预期性能，基于所述预期性能设定电容变化的若干个触发阈值区间，并对每个所述触发阈值区间进行标记和编码，在电容测量装置中编程，设置当电容变化达到或超过触发阈值时触发信号的逻辑，所述逻辑为当电容变化达到触发阈值时自动记录对应的电容读数，在进行触控模拟操作时，实时监控电容变化，当达到设定的阈值区间时，自动记录对应的电容变化值，在若干个触发阈值区间分别读取对应的触发阈值区间的触控强度变化值，从而制定对应的触控强度区间，将记录的若干个触发阈值区间的电容变化值按照不同的触控强度区间进行分类，通过判断所述触控强度区间内电容变化值的最大值和最小值的差值，得到每个触发阈值区间内的变化幅度；对获取的电容变化信号进行预处理，确定合适的分析窗口和样本间隔，并优化频率分析的分辨率，采用傅里叶变换的频率分析方法，对电容变化信号进行处理，以获取频率谱，在频率谱中识别和记录电容变化的主要频率成分和相应的幅度，分析所述频率谱中的特征峰值和谱线分布，以识别薄膜开关在不同触控条件下的电容变化模式，在频率谱中提取电容变化频率和变化幅度的关系，确定触觉灵敏度的定量指标，以识别薄膜开关的触觉反应特征，根据所述触觉反应特征评估薄膜开关的触觉灵敏度和一致性的结果。

全文数据：

权利要求：

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