申请/专利权人：北京控制工程研究所

申请日：2024-01-09

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN117889953A

主分类号：G01J1/42

分类号：G01J1/42;G01J1/02

优先权：

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.04.16#公开

摘要：本发明涉及光照设备技术领域，特别涉及一种光束照度均匀性测试装置及方法。该装置包括沿光路行进方向依次设置的多个光源、多个平行光管和一个光学检测单元，每个光源均位于一个平行光管的入光侧，光源用于为平行光管提供照明，以使平行光管发出平行光束；光学检测单元包括一个聚光器、一个分束镜和两个光学探测器；聚光器用于将平行光束汇聚在分光镜上；分光镜用于对平行光束进行分束，得到两个分束光，一个分束光在第一光学探测器上形成第一光斑，另一个分束光在第二光学探测器上形成第二光斑；第一光学探测器设置于聚光器的基准焦平面；第二光学探测器设置于聚光器的焦面前半个波长的离焦处。本方案能够提高光束照度均匀性测试的效率。

主权项：1.一种光束照度均匀性测试装置，其特征在于，包括沿光路行进方向依次设置的多个光源、多个平行光管和一个光学检测单元，其中：每个所述光源均位于一个所述平行光管的入光侧，所述光源用于为所述平行光管提供照明，以使所述平行光管发出平行光束；所述光学检测单元包括一个聚光器、一个分束镜和两个光学探测器，所述聚光器、所述分光镜和第一光学探测器位于同一条第一直线上，所述分光镜和第二光学探测器位于同一条第二直线上，所述第一直线和所述第二直线垂直；所述聚光器用于将所述平行光束汇聚在所述分光镜上；所述分光镜用于对所述平行光束进行分束，得到两个分束光，一个所述分束光在所述第一光学探测器上形成第一光斑，另一个所述分束光在所述第二光学探测器上形成第二光斑；所述第一光学探测器设置于所述聚光器的基准焦平面，所述第一光学探测器用于对所述第一光斑进行处理，确定所述平行光束的均匀性；所述第二光学探测器设置于所述聚光器的焦面前半个波长的离焦处，所述第二光学探测器用于对所述第二光斑进行处理，得到所述平行光束的照度分布。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京控制工程研究所 一种光束照度均匀性测试装置及方法

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