申请/专利权人：广州威睛光学科技有限公司

申请日：2024-02-28

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN117893525A

主分类号：G06T7/00

分类号：G06T7/00;G06T7/40

优先权：

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.04.16#公开

摘要：本发明涉及多幅图像分析技术领域，具体涉及一种基于红外热成像的芯片热点检测方法。该方法将可见光灰度图像划分为不同的特征区域，获取可见光灰度图像中特征区域的整体融合权重以及特征区域内每个像素点的局部融合权重；利用基于整体融合权重与局部融合权重得到的可见光灰度图像中像素点的第一综合融合权重与红外灰度图像中同一像素点的第二综合融合权重，对可见光灰度图像与红外灰度图像进行融合，得到融合芯片图像；基于该图像检测芯片的热点情况。本发明将可见光灰度图像与红外灰度图像进行融合，使融合芯片图像为具有清晰纹理的红外灰度图像，提高基于融合芯片图像检测芯片的热点区域的准确性。

主权项：1.一种基于红外热成像的芯片热点检测方法，其特征在于，该方法包括：获取芯片工作时的可见光灰度图像与红外灰度图像；根据可见光灰度图像中像素点在每个预设方向上像素点的灰度差异与梯度角度差异，将可见光灰度图像划分为不同的延展区域；基于可见光灰度图像中延展区域与红外灰度图像中延展区域的位置分布，将可见光灰度图像划分为不同的特征区域；结合可见光灰度图像中每个特征区域与其邻接区域的灰度分布之间的差异，以及所述特征区域在红外灰度图像中对应特征区域的灰度分布，获取可见光灰度图像中每个特征区域的整体融合权重；依据可见光灰度图像中各特征区域内每个像素点的位置分布，以及所述像素点在红外灰度图像中对应像素点的第一预设窗口内像素点的灰度值的离散程度，获取可见光灰度图像中各特征区域内每个像素点的局部融合权重；基于所述整体融合权重与所述局部融合权重，获取可见光灰度图像中每个像素点的第一综合融合权重与所述像素点在红外灰度图像中对应像素点的第二综合融合权重；结合所述第一综合融合权重与所述第二综合融合权重对可见光灰度图像与红外灰度图像进行图像融合，得到融合芯片图像；基于融合芯片图像对芯片的热点进行检测。

全文数据：

权利要求：

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