申请/专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司

申请日：2021-01-22

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN112767991B

主分类号：G11C29/18

分类号：G11C29/18

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.16#授权;2021.05.25#实质审查的生效;2021.05.07#公开

摘要：本发明提供的一种测试失效的测试向量的定位方法，包括以下步骤：将测试向量集分成多个逻辑分段，并在部分逻辑分段前加入虚拟标记位向量，虚拟标记位向量后的第一个测试向量为起始测试向量；将具有虚拟标记位向量的逻辑分段的测试向量加载到待测器件上完成测试，并将测试结果在位图中示出；以及通过起始测试向量的位置计算出逻辑分段中测试结果失效的测试向量在测试向量集中的地址。本发明通过虚拟标记位后的起始测试向量的位置计算出逻辑分段中测试结果失效的测试向量在测试向量集中的地址，实现了定位了失效的测试向量在测试向量集中的位置，使得调试的工作可以很容易的进行。

主权项：1.一种测试失效的测试向量的定位方法，其特征在于，包括以下步骤：将测试向量集分成多个逻辑分段，并在部分所述逻辑分段前加入虚拟标记位向量，所述虚拟标记位向量后的第一个测试向量为起始测试向量；将具有所述虚拟标记位向量的逻辑分段的测试向量加载到待测器件上完成测试，并将测试结果在位图中示出；以及通过所述虚拟标记位向量后的起始测试向量的位置计算出所述逻辑分段中测试结果失效的测试向量在测试向量集中的地址，其中，所述逻辑分段中测试结果失效的测试向量在测试向量集中的地址s满足以下公式：s＝offset+y*n+x-1；其中，offset代表虚拟标记位向量所在逻辑分段的起始测量向量的位置；x，y表示测试结果失效的测试向量在位图中的位置，n表示位图的每行可包括的比较结果的数量，且n为正整数。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海华虹宏力半导体制造有限公司 一种测试失效的测试向量的定位方法

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