申请/专利权人：深圳市爱贝科精密工业股份有限公司;爱贝科精密工业(惠州)有限公司

申请日：2024-01-24

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN117611654B

主分类号：G06T7/60

分类号：G06T7/60;G06T7/00;G06V10/44;G01B11/02;B23Q17/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.16#授权;2024.03.15#实质审查的生效;2024.02.27#公开

摘要：本申请提供了一种主轴热伸长测试方法及测试装置，通过启动热伸长测试后，获取目标主轴的热伸长监测图像集，对所述热伸长监测图像集中的每张热伸长监测图像进行灰度转换，得到热伸长灰度图像集，选取所述热伸长灰度图像集中的一张热伸长灰度图像，确定该张热伸长灰度图像的灰度残差基，通过所述灰度残差基确定该张热伸长灰度图像的残差特征熵，重复上述步骤，确定所述热伸长灰度图像集中剩余热伸长灰度图像的残差特征熵，根据所有的残差特征熵确定目标主轴热伸长的增长系数，通过所述增长系数确定目标主轴的热伸长量，避免了高温引起的微透镜效应对主轴热伸长测量准确性的影响，可实现主轴在高温下的热伸长测量。

主权项：1.一种主轴热伸长测试方法，其特征在于，包括如下步骤：启动热伸长测试，获取目标主轴的热伸长监测图像集，其中，通过指定的高清摄像机按照预定频率对目标主轴进行拍摄，并将拍摄得到的图像作为热伸长监测图像，将所有热伸长监测图像的集合作为目标主轴的热伸长监测图像集；对所述热伸长监测图像集中的每张热伸长监测图像进行灰度转换，得到热伸长灰度图像集；选取所述热伸长灰度图像集中的一张热伸长灰度图像，确定该张热伸长灰度图像的灰度残差基，其中，所述灰度残差基表示为对应热伸长灰度图像中所有灰度残差特征量的集合，确定该张热伸长灰度图像的灰度残差基具体包括：获取该张热伸长灰度图像中的一个灰度像素点，确定该个灰度像素点的灰度决策域；根据所述灰度决策域确定该个灰度像素点的灰度关联因子；通过所述灰度关联因子和所述灰度决策域确定该个灰度像素点的灰度残差特征量；重复上述步骤，确定该张热伸长灰度图像中剩余灰度像素点的灰度残差特征量；将所有的灰度残差特征量组成该张热伸长灰度图像的灰度残差基，通过所述灰度残差基确定该张热伸长灰度图像的残差特征熵，其中，所述残差特征熵反映了所述灰度残差基中所有灰度残差特征量的混乱程度，通过所述灰度残差基确定该张热伸长灰度图像的残差特征熵采用下述步骤实现：获取所述灰度残差基中不同的灰度残差特征量的总个数；确定所述灰度残差基中第个不同的灰度残差特征量的灰度残差含量系数；根据所述灰度残差基中不同的灰度残差特征量的总个数和所述灰度残差基中第个不同的灰度残差特征量的灰度残差含量系数确定该张热伸长灰度图像的残差特征熵，其中所述残差特征熵采用下述公式确定： 其中，表示该张热伸长灰度图像的残差特征熵，，重复上述步骤，确定所述热伸长灰度图像集中剩余热伸长灰度图像的残差特征熵；根据所有的残差特征熵确定目标主轴热伸长的增长系数，其中，根据所有的残差特征熵确定目标主轴热伸长的增长系数具体包括；对所有的残差特征熵进行排序，得到目标主轴热伸长的残差特征熵序列；确定所述残差特征熵序列中每组相邻的残差特征熵之间的增长系数；其中，确定所述残差特征熵序列中每组相邻的残差特征熵之间的增长系数具体包括：选取所述残差特征熵序列中第一组相邻的残差特征熵；确定该组相邻的残差特征熵之间的增长系数；重复上述步骤，确定所述残差特征熵序列中剩余相邻的残差特征熵之间的增长系数；通过所述增长系数确定目标主轴的热伸长量。

全文数据：

权利要求：

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