申请/专利权人：天津市凯瑞新材料科技有限公司

申请日：2024-03-20

公开（公告）日：2024-04-19

公开（公告）号：CN117911417A

主分类号：G06T7/00

分类号：G06T7/00;G06T5/70;G06T5/10;G06T7/11;G06T7/13;G06T7/187;G01N21/88

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.07#实质审查的生效;2024.04.19#公开

摘要：本发明涉及基于光学技术的缺陷检测技术领域，具体涉及一种基于光电探测器的纺织布面缺陷检测方法。该方法包括：获取布面矩阵，对布面矩阵的高频区间进行分割处理得到高频子段；计算每个高频子段的频率特征噪声程度；根据每个高频子段的频率特征噪声程度得到每个高频子段的第一综合噪声指标；根据每个高频子段的第一综合噪声指标得到每个高频子段的第二综合噪声指标；根据每个高频子段的第二综合噪声指标设置每个高频子段对应的通带增益值；根据每个高频子段对应的通带增益值和布面矩阵的低频区间对布面矩阵进行去噪处理和缺陷检测处理得到缺陷区域。本发明避免了散斑噪声的干扰，保证了布面缺陷检测的准确性。

主权项：1.一种基于光电探测器的纺织布面缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：利用光电探测器获取布面矩阵；根据布面矩阵得到高频区间和低频区间，对高频区间进行分割处理得到高频子段；根据每个高频子段中每个频率对应的幅值，每个高频子段中频率，每个高频子段中频率对应的幅值与其他高频子段中频率对应的幅值的差异得到每个高频子段的频率特征噪声程度；根据每个高频子段在布面矩阵中对应的信息得到每个高频子段的对象区域，根据每个高频子段的频率特征噪声程度，每个高频子段的对象区域中矩阵元素的梯度值得到每个高频子段的第一综合噪声指标；根据每个高频子段的第一综合噪声指标，每个高频子段的对象区域的矩阵元素的梯度方向得到每个高频子段的第二综合噪声指标；根据每个高频子段的第二综合噪声指标设置每个高频子段对应的通带增益值；根据每个高频子段对应的通带增益值和低频区间对布面矩阵进行去噪处理和缺陷检测处理得到缺陷区域。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 天津市凯瑞新材料科技有限公司 一种基于光电探测器的纺织布面缺陷检测方法

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