申请/专利权人：中国工程物理研究院计量测试中心

申请日：2022-03-21

公开（公告）日：2024-04-19

公开（公告）号：CN114578095B

主分类号：G01P21/02

分类号：G01P21/02

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.19#授权;2022.06.21#实质审查的生效;2022.06.03#公开

摘要：针对激光多普勒测速系统校准过程中，传统的标准速度构造方法构造速度低且结构复杂、危险性高，本发明提出了一种通过移频技术模拟标准速度源的多普勒测速系统的校准装置和校准方法。所述装置和方法利用声光移频器、无偏分束镜、平面反射镜、光电探测器、示波器、波长计实现标准速度源的构造与检测，通过多普勒测速系统测量示值与标准速度源对比完成示值误差校准。同时无偏分束镜、平面反射镜还可通过光纤器件替代。本发明所述装置和方法无需提供运动物体，即可实现标准速度构造，完成多普勒测速系统的校准，与传统方法相比更安全、简单、实验成本更低；在高速校准时，通过对移频量的调整，即可实现更高的标准速度构造，如公里级每秒的速度。

主权项：1.一种用于多普勒测速系统的校准装置，其特征在于，包括声光移频器、波长计、光电探测器、示波器、第一无偏分束镜、第二无偏分束镜、第三无偏分束镜、第四无偏分束镜，第一平面反射镜、第二平面反射镜、第三平面反射镜；所述第一无偏分束镜、声光移频器、第二无偏分束镜、第三无偏分束镜、光电探测器、示波器依次排列设置在同一直线上，所述第一平面反射镜位于第一无偏分束镜上方，所述第二平面反射镜与第一平面反射镜同高度设置于第二无偏分束镜上方，所述第四无偏分束镜位于第一无偏分束镜和第一平面反射镜的上方，所述第三平面反射镜与第四无偏分束镜同高度设置于第三无偏分束镜上方；所述波长计位于第四无偏分束镜的上方，用于检测本振光的波长；光路传播路径为：多普勒测速系统出射光经第一无偏分束镜透射、经声光移频器移频、经第二无偏分束镜反射、经第二平面反射镜反射、经第一平面反射镜反射、经第一无偏分束镜反射返回至多普勒测速系统；多普勒测速系统出射光经第一无偏分束镜反射、经第四无偏分束镜透射后到达波长计；多普勒测速系统出射光经第一无偏分束镜透射、经声光移频器移频、经第二无偏分束镜透射后的光束，与多普勒测速系统出射光经第一无偏分束镜反射、经第四无偏分束镜反射、经第三平面反射镜反射后的另一光束在第三无偏分束镜处合束，合束后的光进入光电探测器，所述光电探测器完成光电信号转换后，输入至示波器。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国工程物理研究院计量测试中心 一种用于多普勒测速系统的校准装置及校准方法

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