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【发明公布】器件仿真的迭代初值确定方法、装置、设备及存储介质_苏州珂晶达电子有限公司_202410338766.4 

申请/专利权人:苏州珂晶达电子有限公司

申请日:2024-03-25

公开(公告)日:2024-04-26

公开(公告)号:CN117932985A

主分类号:G06F30/20

分类号:G06F30/20

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.05.14#实质审查的生效;2024.04.26#公开

摘要:本发明公开了一种器件仿真的迭代初值确定方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:基于牛顿迭代算法,建立器件仿真的迭代计算模型;根据外接电压的变化步长,确定第i次仿真模拟的边值条件;将第i次仿真模拟的迭代初值yi和第i次仿真模拟的边值条件输入迭代计算模型,确定第i次仿真模拟的迭代最优解xi;根据第i次仿真模拟的迭代最优解xi转换求出准费米势,对第i次仿真模拟的迭代最优解xi转换求出的准费米势进行雅可比外推,确定第i+1次仿真模拟的迭代初值yi+1;重复执行确定第i次仿真模拟的边值条件,进行下一仿真模拟的过程。本发明实施例的技术方案可有效提高每一次仿真过程中,牛顿迭代算法求解的收敛速度。

主权项:1.一种器件仿真的迭代初值确定方法,其特征在于,应用于对半导体器件内部的载流子浓度及电势分布进行计算;所述器件仿真的迭代初值确定方法,包括:基于牛顿迭代算法,建立器件仿真的迭代计算模型;其中,所述迭代计算模型表征半导体器件外接电压与内部的电势和载流子浓度分布的关系;根据外接电压的变化步长,确定第i次仿真模拟的边值条件;其中,所述第i次仿真模拟的边值条件为第i次仿真模拟施加于半导体器件的外接电压;将第i次仿真模拟的迭代初值yi和所述第i次仿真模拟的边值条件输入所述迭代算模型进行迭代计算,确定第i次仿真模拟的迭代最优解xi;根据所述第i次仿真模拟的迭代最优解xi转换求出准费米势,对所述第i次仿真模拟的迭代最优解xi转换求出的准费米势进行雅克比外推,确定第i+1次仿真模拟的迭代初值yi+1;重复执行确定所述第i次仿真模拟的边值条件的步骤,进行下一所述仿真模拟的过程。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 苏州珂晶达电子有限公司 器件仿真的迭代初值确定方法、装置、设备及存储介质

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