申请/专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学

申请日：2021-07-07

公开（公告）日：2024-04-26

公开（公告）号：CN115113289B

主分类号：G01V5/226

分类号：G01V5/226;G01N23/046

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.26#授权;2022.10.18#实质审查的生效;2022.09.27#公开

摘要：本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：至少一个射线源，能够围绕旋转轴线在至少两个扫描位置之间转动并且在相邻两个扫描位置之间的转动角度大于每个射线源的相邻靶点相对于旋转轴线的角度；探测器组件和输送装置，用于承载被检查的物体。检查系统构造成使得至少一个射线源和探测器组件能够相对于输送装置沿行进方向移动，从而被检查的物体能够所述检查区域。当至少一个射线源位于多个扫描位置中的一个时，至少一个射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动并且至少一个射线源发射X射线；当至少一个射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动预定距离后，至少一个射线源围绕旋转轴线转动到多个扫描位置中的另一个。

主权项：1.一种检查系统，包括：至少一个射线源，用于发射X射线并且能够围绕旋转轴线在至少两个扫描位置之间转动，其中每个射线源包括单独的壳体以限定真空空间并且包括封装在所述壳体内的多个靶点，所述至少一个射线源在相邻两个扫描位置之间的转动角度大于每个射线源的相邻靶点相对于所述旋转轴线的角度；探测器组件，用于接收从所述至少一个射线源发射并经过所述检查系统的检查区域的X射线；和输送装置，用于承载被检查的物体，其中，所述检查系统构造成使得所述至少一个射线源和所述探测器组件能够相对于所述输送装置沿行进方向移动，从而所述被检查的物体能够进入所述检查区域，其中所述行进方向与所述旋转轴线平行；其中，所述检查系统构造成：当所述至少一个射线源位于所述多个扫描位置中的一个时，所述至少一个射线源和所述探测器组件相对于所述输送装置沿所述行进方向移动并且所述至少一个射线源发射X射线；并且当所述至少一个射线源和所述探测器组件相对于所述输送装置沿所述行进方向移动预定距离后，所述至少一个射线源围绕所述旋转轴线转动到所述多个扫描位置中的另一个。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 同方威视技术股份有限公司;清华大学 检查系统和方法

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