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【发明授权】用于电源完整性分析的芯片电流的构造方法_芯潮流(珠海)科技有限公司_202410026765.6 

申请/专利权人:芯潮流(珠海)科技有限公司

申请日:2024-01-09

公开(公告)日:2024-04-26

公开(公告)号:CN117540690B

主分类号:G06F30/367

分类号:G06F30/367

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.26#授权;2024.03.01#实质审查的生效;2024.02.09#公开

摘要:本公开的实施例提供了用于电源完整性分析的芯片电流的构造方法,其包括基于芯片电路的参数对芯片电路进行仿真,得到预定时段内芯片电路稳定工作状态下的第一动态电流;提取第一动态电流的交流分量和直流分量;获得所述芯片电路在状态转换过程的转换时间内随时间变化的平均电流;根据第一动态电流、在状态转换过程的转换时间内随时间变化的平均电流和转换时间获得芯片电路在状态转换过程中的第二动态电流。本公开的用于电源完整性分析的芯片电流的构造方法满足芯片电路的验证需求,并且能够极大的提高芯片电路的验证速度。

主权项:1.一种用于电源完整性分析的芯片电流的构造方法,其特征在于包括:基于芯片电路的参数对芯片电路进行仿真,得到预定时段内芯片电路稳定工作状态下的第一动态电流;提取第一动态电流的交流分量和直流分量;获得所述芯片电路在状态转换过程的转换时间内随时间变化的平均电流;根据第一动态电流、在状态转换过程的转换时间内随时间变化的平均电流和转换时间获得芯片电路在状态转换过程中的第二动态电流,其包括根据所述转换时间与所述预定时段的比值,对第一动态电流进行多次复制,以得到时间长度不少于所述转换时间的重复的第一动态电流,计算得到所述平均电流与所述第一动态电流的直流分量的比例函数;将所述重复的第一动态电流与所述比例函数相乘来得到芯片电路在状态转换过程中的第二动态电流,所述第二动态电流通过以下等式计算: I 1 t=I0’×pt其中I1t为第二动态电流,t表示时间,I0’为时间长度不少于所述转换时间的重复的第一动态电流,pt为所述平均电流与所述第一动态电流的直流分量的比例函数,其中 其中I0为第一动态电流,t0为所述预定时段,n为正整数。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 芯潮流(珠海)科技有限公司 用于电源完整性分析的芯片电流的构造方法

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