申请/专利权人:杭州鐵三角科技有限公司
申请日:2023-09-05
公开(公告)日:2024-05-07
公开(公告)号:CN220915397U
主分类号:H04R1/10
分类号:H04R1/10
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.05.07#授权
摘要:本实用新型涉及一种降噪调试结构。所述降噪调试结构包括主体盖、调试接口和多个密封件,所述主体盖包括手柄,手柄设于主体盖相对降噪耳机的外侧,多个密封件连接于主体盖朝向降噪耳机的一侧,多个密封件分别与降噪耳机壳体上的通孔对应设置,所述多个密封件为弹性材料,以封闭降噪耳机壳体上的通孔形成密闭空间。本实用新型通过将所有密封件全部安装于主体盖上,实现降噪调试中通过操作手柄和主体盖,同时将多个密封件安装于降噪耳机或从降噪耳机拆除,操作方便;密封件采用360°内嵌工艺,将密封件固定于主体盖和手机壳中时,防止松动和脱离,提高了密闭效果,降噪调试效果更佳。
主权项:1.一种降噪调试结构2,应用于降噪耳机1的降噪调试中,其特征在于:所述降噪调试结构2包括主体盖22、调试接口23和多个密封件24,所述主体盖22包括手柄21,手柄21设于主体盖22的外侧,所述调试接口23与待调试降噪耳机1的调试插孔121对应设置,所述多个密封件24连接于主体盖22朝向待调试降噪耳机1的一侧,多个密封件24分别与待调试降噪耳机壳体11上的通孔对应设置,所述多个密封件24为弹性材料。
全文数据:
权利要求:
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