申请/专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所

申请日：2020-06-30

公开（公告）日：2020-09-15

公开（公告）号：CN111665024A

主分类号：G01M11/02(20060101)

分类号：G01M11/02(20060101)

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2020.10.13#实质审查的生效;2020.09.15#公开

摘要：本发明公开了一种均匀光源的辐射特性测试装置及方法，该设备兼备面均匀性测试功能以及角均匀性测试功能，具有结构简单，测量速度快、通用性强的优点，该测试装置包括支架、升降机构、轻质横杆，多个光电探测器组件以及信号处理及测量控制单元；升降机构与支架连接，轻质横杆安装在升降机构上，多个光电探测器组件并排安装在轻质横杆上，信号处理及测量控制单元安装在支架上。采用横向均布光电探测器纵向推扫的方法实现均匀光源的面均匀性的测试，采用角度均布光电探测器的方法实现了均匀光源的角均匀性测试。

主权项：1.一种均匀光源的辐射特性测试装置，其特征在于：包括升降机构、载物板、轻质横杆、光电探测器组件以及信号处理及测量控制单元；载物板安装于升降机构上，在升降机构驱动下可沿竖直方向移动；轻质横杆安装于载物板上，且可以载物板中心为圆心做旋转运动，轻质横杆的长度大于等于待测均匀光源的出射面尺寸；光电探测器组件设置为多个，均包括光电探测器、滑动架以及连接板；滑动架卡装于所述轻质横杆上，连接板一端固定光电探测器，另一端与所述滑动架铰接；轻质横杆上设有刻度尺，用于对每个探测器的单元的位置进行指示；载物板上设有刻度范围为±90°的第一角刻度尺，用于手动旋转轻质横杆时，对其旋转角度进行指示；滑动架上设有第二角度尺，用于对各光电探测器的光轴指向进行指示；所有光电探测器均与所述信号处理及测量控制单元电连接，用于将光电探测器输出的电流信号进行处理；信号处理及测量控制单元同时与升降机构电连接，用于控制升降机构上下移动。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种均匀光源的辐射特性测试装置及方法

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