申请/专利权人：青海民族大学

申请日：2022-06-10

公开（公告）日：2024-04-16

公开（公告）号：CN115078963B

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.16#授权;2022.10.11#实质审查的生效;2022.09.20#公开

摘要：本发明公开了一种MMIC温度特性测试方法，包括MMIC直流温度特性测试、MMIC小信号温度特性测试、MMIC大信号温度特性测试、MMIC线性度温度特性测试以及测试结果与仿真结果匹配。本发明核心是采用温度实验箱、直流电源、矢量网络分析仪、信号产生器和频谱仪实现MMIC温度特性测试，该核心仪器具有测试小信号温度参数和大信号温度参数的能力，还具有表征线性度温度映射能力。相比于其他传统的测试技术，该技术具有精确度高、可操作性强的优势。本发明可以有效测试MMIC温度特性，为MMIC电路的温度特性测试提供重要参考。

主权项：1.一种MMIC温度特性测试方法，包括MMIC直流温度特性测试、MMIC小信号温度特性测试、MMIC大信号温度特性测试、MMIC线性度温度特性测试以及测试结果与仿真结果匹配；所述MMIC直流温度特性测试采用温度实验箱和直流电源，在测试时，逐步增大MMIC的漏源电压和栅源电压直至达到预设值，控制MMIC的温度按一定梯度在最大工作温度范围内上升，并分别记录不同温度下MMIC漏源电流与漏源电压、栅源电压的映射关系，将映射关系与仿真的映射关系进行比较，得到MMIC直流特性的第一比较结果；所述MMIC小信号温度特性测试采用温度实验箱、直流电源和矢量网络分析仪，在测试时，将MMIC的漏源电压和栅源电压设为预定值，工作模式选择Line，控制MMIC的温度按一定梯度在最大工作温度范围内上升，并分别记录不同温度下MMIC小信号增益、输出回波损耗、输入回波损耗与频率的映射关系，将映射关系与仿真的映射关系进行比较，得到MMIC小信号特性的第一比较结果；所述MMIC大信号温度特性测试采用温度实验箱、直流电源、矢量网络分析仪、驱动放大器和衰减器，在测试时，将MMIC的漏源电压和栅源电压设为预定值，工作模式选择Power，控制MMIC的温度按一定梯度在最大工作温度范围内上升，并分别记录不同温度下MMIC输出功率、增益、功率附加效率与输入功率的变化关系，将映射关系与仿真的映射关系进行比较，得到MMIC大信号特性第一比较结果；所述MMIC线性度温度特性测试采用温度实验箱、直流电源、矢量信号产生器、频谱仪、驱动放大器、衰减器和功率合成器，在测试时，将MMIC的漏源电压和栅源电压设为预定值，控制MMIC的温度按一定梯度在最大工作温度范围内上升，并分别记录不同温度下MMIC线性度与频率的变化关系，将映射关系与仿真的映射关系进行比较，得到MMIC线性度的第一比较结果；所述测试结果与仿真结果匹配时确认MMIC所有的第一比较结果正确，所述MMIC合格，测试方法有效。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 青海民族大学 一种MMIC温度特性测试方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD