【发明公布】一种平面状周期开孔屏蔽体的屏蔽效能确定方法及系统_国网经济技术研究院有限公司;华北电力大学;国网山东省电力公司检修公司_202010841437.3 

申请/专利权人：国网经济技术研究院有限公司;华北电力大学;国网山东省电力公司检修公司

申请日：2020-08-20

发明/设计人：文卫兵;刘杰;杨勇;郭铭群;石岩;李明;杨志栋;潘励哲;冯迎春;王加龙;李琦;魏争;白婉欣;焦重庆;王肃;雷鸣

公开（公告）日：2020-11-20

代理机构：北京高沃律师事务所

公开（公告）号：CN111965458A

代理人：张梦泽

主分类号：G01R31/00(20060101)

地址：102202 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号A栋五、六层

分类号：G01R31/00(20060101)

优先权：

专利状态码：在审-公开

法律状态：2020.11.20#公开

摘要：本发明公开了一种平面状周期开孔屏蔽体的屏蔽效能确定方法及系统。本发明采用屏蔽效能测试系统测量的方式确定边缘效应的临界尺寸，并利用发射天线轴线上场点的屏蔽效能计算方法计算有效作用区域的屏蔽效能，实现了平面状周期开孔屏蔽体的边缘效应产生的边界的确定及边缘效应产生的边界的范围内的屏蔽效能的准确地计算。

主权项：1.一种平面状周期开孔屏蔽体的屏蔽效能确定方法，其特征在于，所述平面状周期开孔屏蔽体包括：平行设置的周期开孔的平面板和环形的发射天线，发射天线的轴线与平面板的中心对齐；所述屏蔽效能确定方法包括如下步骤：以所述平面板的两条相互垂直的边的方向分别为x轴方向和y轴方向，以发射天线的轴线的方向为z轴方向，以平面板的中心为原点，建立坐标系；在x轴方向选取多个x轴测量场点，在y轴方向选取多个y轴测量场点；采用屏蔽效能测试系统分别测量每个所述x轴测量场点和每个所述y轴测量场点的屏蔽效能，获得每个所述x轴测量场点的屏蔽效能测量值和每个所述y轴测量场点的屏蔽效能测量值；根据每个所述x轴测量场点的屏蔽效能测量值，建立x轴屏蔽效能变化曲线；根据每个所述y轴测量场点的屏蔽效能测量值，建立y轴屏蔽效能变化曲线；根据所述x轴屏蔽效能变化曲线和所述y轴屏蔽效能变化曲线，确定平面状周期开孔屏蔽体的不产生边缘效应的有效作用区域；利用发射天线轴线上场点的屏蔽效能计算方法计算有效作用区域的屏蔽效能。

全文数据：

权利要求：

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