申请/专利权人:应用材料公司
申请日:2019-06-19
公开(公告)日:2021-02-19
公开(公告)号:CN112385013A
主分类号:H01L21/02(20060101)
分类号:H01L21/02(20060101);H01L21/324(20060101);H01L21/764(20060101)
优先权:["20180620 US 62/687,453"]
专利状态码:在审-实质审查的生效
法律状态:2021.03.09#实质审查的生效;2021.02.19#公开
摘要:描述了用于在半导体基板上形成可流动碳层的方法。如本文中所述地向含碳前驱物施加局部激发例如PECVD中的等离子体以在基板上形成可流动碳膜。也已发现了远程激发方法,该远程激发方法通过以下步骤来产生可流动碳膜:激发稳定前驱物以产生自由基前驱物,该自由基前驱物接着在基板处理区域中与未激发的含碳前驱物结合。可选的后沉积等离子体暴露也可以在沉积之后固化或凝固可流动膜。也描述了用于使用本文中所述的可流动膜来形成气隙的方法。
主权项:1.一种可流动碳膜沉积方法,包括以下步骤:将基板提供到处理腔室的基板处理区域;形成包括含碳前驱物的反应等离子体,所述含碳前驱物实质上不包括氧,所述反应等离子体实质上不包括氧;以及将所述基板暴露于所述反应等离子体,以在所述基板上沉积可流动碳膜,所述可流动碳膜实质上不包括硅,也不包括氧。
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