申请/专利权人：京瓷株式会社

申请日：2019-09-24

公开（公告）日：2021-05-07

公开（公告）号：CN112771364A

主分类号：G01N15/00(20060101)

分类号：G01N15/00(20060101);B03B5/00(20060101);G01N37/00(20060101)

优先权：["20180927 JP 2018-182299"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2021.05.25#实质审查的生效;2021.05.07#公开

摘要：本公开的粒子分离测量设备1具备：第1流路设备2，具有包含作为分离对象的特定的粒子的第1流体流出的分离后流出口13；和第2流路设备3，载置该第1流路设备2，具有第1流体流入的第1流入口23，在下表面配置有分离后流出口13的第1流路设备2被载置于在第1区域21的上表面配置有第1流入口23的第2流路设备3，分离后流出口13和第1流入口23对置地连接，第1流入口23的开口的大小大于分离后流出口13的开口的大小。

主权项：1.一种粒子分离测量设备，具备：板状的第1流路设备，具有：使包含作为分离对象的特定的粒子的流体流入的分离前流入口、与该分离前流入口连接的主流路、分别与该主流路连接的多个分支流路、以及包含被分离出的所述特定的粒子的第1流体流出的分离后流出口；板状的第2流路设备，具有载置该第1流路设备的第1区域以及成为所述特定的粒子的测量区域的第2区域，并且具有：所述第1流体流入的第1流入口、不包含所述特定的粒子的第2流体流入的第2流入口、以及分别配置在所述第2区域的与所述第1流入口连接并且所述第1流体通过的第1流路及与所述第2流入口连接并且所述第2流体通过的第2流路，在下表面配置有所述分离后流出口的所述第1流路设备被载置于在所述第1区域的上表面配置有所述第1流入口的所述第2流路设备，所述分离后流出口和所述第1流入口对置地连接，所述第1流入口的开口的大小大于所述分离后流出口的开口的大小。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 京瓷株式会社 粒子分离测量设备以及粒子分离测量装置

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