申请/专利权人：致茂电子(苏州)有限公司

申请日：2019-12-31

公开（公告）日：2021-07-16

公开（公告）号：CN113125815A

主分类号：G01R1/067(20060101)

分类号：G01R1/067(20060101);G01R1/18(20060101);G01R31/28(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.07.18#授权;2021.08.03#实质审查的生效;2021.07.16#公开

摘要：本申请提供一种电子组件测试装置与探针，所述电子组件测试装置包含载板以及探针。所述载板用以承载电子组件。所述探针包含接触部以及常闭型开关。接触部电性连接量测模块，并用以接触电子组件。常闭型开关电性连接量测模块，并受控于控制信号。当常闭型开关未收到控制信号时，常闭型开关提供旁路电流路径，旁路电流路径用以将量测模块导通至旁路端。当常闭型开关收到控制信号时，常闭型开关不提供该旁路电流路径。

主权项：1.一种电子组件测试装置，其特征在于，包含：一载板，用以承载一电子组件；以及一探针，包含：一接触部，电性连接一量测模块，并用以接触该电子组件；以及一常闭型开关，电性连接该量测模块，并受控于一控制信号；其中当该常闭型开关未收到该控制信号时，该常闭型开关提供一旁路电流路径，该旁路电流路径用以将该量测模块导通至一旁路端；其中当该常闭型开关收到该控制信号时，该常闭型开关不提供该旁路电流路径。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 致茂电子(苏州)有限公司 电子组件测试装置与探针

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