申请/专利权人：友达光电股份有限公司

申请日：2022-12-06

公开（公告）日：2023-03-14

公开（公告）号：CN115792459A

主分类号：G01R31/00

分类号：G01R31/00

优先权：["20220708 TW 111125714"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.03.31#实质审查的生效;2023.03.14#公开

摘要：本发明提供一种测试系统以及测试方法。测试系统包括电子装置以及测试装置。电子装置包括处理器。测试装置包括多个感测器以及控制器。各个感测器感测待测物以产生对应的感测信号。控制器依据处理器的第一控制信号来取样感测信号，并将经取样的感测信号传输至处理器以使处理器依据经取样的感测信号产生测试报告。

主权项：1.一种测试系统，包括：一电子装置，包括一处理器；以及一测试装置，耦接该电子装置以及至少一待测物，包括：多个感测器，耦接该至少一待测物，各该感测器感测该至少一待测物以产生对应的一感测信号；以及一控制器，耦接各该感测器以及该处理器，该控制器依据该处理器的一第一控制信号来取样各该感测信号，并将经取样的各该感测信号传输至该处理器以使该处理器依据经取样的各该感测信号产生一测试报告。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 友达光电股份有限公司 测试系统以及测试方法

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