申请/专利权人：长鑫存储技术有限公司

申请日：2021-09-16

公开（公告）日：2023-03-21

公开（公告）号：CN115831211A

主分类号：G11C29/56

分类号：G11C29/56

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.04.07#实质审查的生效;2023.03.21#公开

摘要：本申请实施例提供了一种测试板卡、测试系统和测试方法，该测试板卡包括寄存时钟驱动器RCD模块和待测试存储器，且RCD模块的输出端与待测试存储器的输入端连接；其中，RCD模块，用于确定目标测试指令；以及在进入脱机模式后，向待测试存储器发送目标测试指令；待测试存储器，用于接收目标测试指令，并根据目标测试指令输出测试结果。这样，本申请实施例提供了一种支持脱机模式的测试板卡，允许脱离系统主板对待测试存储器进行测试，能够方便地修改测试相关参数，提高测试的灵活性和效率。

主权项：1.一种测试板卡，其特征在于，所述测试板卡包括寄存时钟驱动器RCD模块和待测试存储器，且所述RCD模块的输出端与所述待测试存储器的输入端连接；其中，所述RCD模块，用于确定目标测试指令；以及在进入脱机模式后，向所述待测试存储器发送所述目标测试指令；所述待测试存储器，用于接收所述目标测试指令，并根据所述目标测试指令输出测试结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 长鑫存储技术有限公司 一种测试板卡、测试系统和测试方法

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