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【发明公布】高光谱成像光谱仪PRNU校正方法及存储介质_中国科学院合肥物质科学研究院_202211508808.1 

申请/专利权人:中国科学院合肥物质科学研究院

申请日:2022-11-29

公开(公告)日:2023-03-31

公开(公告)号:CN115876322A

主分类号:G01J3/28

分类号:G01J3/28;G01J3/02

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.04.18#实质审查的生效;2023.03.31#公开

摘要:本发明的一种高光谱成像光谱仪PRNU校正方法及存储介质,包括通过卤钨灯光源的积分球平场图像获取两个亮度下的多幅平场图像数据,并通过统计学方法计算得到两个亮度下的图像均值的标准差;使用该标准差作为参照,针对高光谱成像光谱仪的波段,选择激光器波长并去相干后进行平场数据采集和筛选,对筛选后的激光器平场数据进行PRNU校正处理,获取校正系数;对不同波长的PRNU校正系数进行数据插值,获取高分辨率波段下的PRNU校正系数集合;使用不同波长的PRNU校正系数即可实现对高光谱成像光谱仪数据的高精度PRNU校正。本发明采用成像光谱仪成像焦面裸片进行高分辨率光谱平场成像,可获取全部光谱仪光谱通道的全像面PRNU校正参数,各光谱通道数据量大且不用考虑光谱漂移问题,校正精度更高、稳定性更好。

主权项:1.一种高光谱成像光谱仪PRNU校正方法,包括数据采集和数据处理,其特征在于,所述数据采集包括通过卤钨灯光源的积分球平场图像获取两个亮度下的多幅平场图像数据,并通过统计学方法计算得到两个亮度下的图像均值的标准差,将其作数据筛选的参考,从设定量的脉冲激光器平场图像数据集中获取该参考范围内的图像;所述数据处理包括针对高光谱成像光谱仪的波段,选择激光器波长并去相干后进行平场数据采集和筛选,对筛选后的激光器平场数据进行PRNU校正处理,获取校正系数;对不同波长的PRNU校正系数进行数据插值,从而获取高分辨率波段下的PRNU校正系数集合;使用不同波段的PRNU校正系数即可实现对高光谱成像光谱仪数据的高精度PRNU校正。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国科学院合肥物质科学研究院 高光谱成像光谱仪PRNU校正方法及存储介质

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