申请/专利权人：美光科技公司

申请日：2022-10-26

公开（公告）日：2023-05-26

公开（公告）号：CN116168753A

主分类号：G11C29/14

分类号：G11C29/14;G11C29/36;G11C29/44

优先权：["20211124 US 17/535,403"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.06.13#实质审查的生效;2023.05.26#公开

摘要：本公开涉及存储器装置缺陷扫描。一种方法包含确定涉及存储器装置的准则被满足及响应于所述准则被满足而执行涉及所述存储器装置的存储器裸片的缺陷扫描。所述方法进一步包含作为执行所述缺陷扫描的部分确定所述存储器装置的至少一个存储器裸片是否经历了降级。执行所述缺陷扫描作为质量及可靠性保证测试或可靠性演示测试或两者的部分。

主权项：1.一种用于存储器装置缺陷扫描的方法450，其包括：确定涉及存储器装置130、140、230的准则被满足452；响应于所述准则被满足而执行涉及所述存储器装置130、140、230的存储器裸片232的缺陷扫描454；以及作为执行所述缺陷扫描的部分确定所述存储器装置130、140、230的至少一个存储器裸片232是否经历了降级456。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 美光科技公司 存储器装置缺陷扫描

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