申请/专利权人：惠科股份有限公司

申请日：2022-06-30

公开（公告）日：2023-05-26

公开（公告）号：CN115050295B

主分类号：G09G3/00

分类号：G09G3/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.05.26#授权;2022.09.30#实质审查的生效;2022.09.13#公开

摘要：本申请提供的一种测试电路、测试方法及显示装置，通过设置第一测试模块、第二测试模块以及自锁模块，自锁模块择一启动两个测试模块，无需在一个阶段测试时切除另一个测试模块，并且在像素元件测试单元的基础上控制单元，所述每个控制单元均响应于高电平输出低电平，每个测试单元响应于对应的控制单元输出的低电平而关闭，以在其中一个测试单元运行测试时，另一个测试单元关闭，从而可以实现其中一个测试单元进行测试时，另一个测试单元通过自锁而关闭，因此在各个测试阶段相互之间不会受到影响，同时采用独立的测试电路进行测试，无需面板上的测试电路，不会受到信号数量等限制。

主权项：1.一种测试电路，其特征在于，包括：第一测试模块，包括第一测试单元和第一控制单元，所述第一测试单元的输出端用于测试过程中耦接待测的阵列基板，输入端耦接外部的第一测试信号输出模块的信号输出端；第二测试模块，包括第二测试单元和第二控制单元，所述第二测试单元的输出端用于测试过程中耦接待测的模组面板，输入端耦接外部的第二测试信号输出模块的信号输出端，所述第一测试模块和第二测试模块各自用于进行Arrary测试和Cell段测试中的一个；以及，自锁模块，所述自锁模块包括第一信号输出端和第二信号输出端，所述第一信号输出端耦接所述第二控制单元的输入端和所述第一测试信号输出模块的输入端，所述第二信号输出端耦接所述第一控制单元的输入端和所述第二测试信号输出模块的输入端；所述第一控制单元耦接所述第一测试单元，所述第二控制单元耦接所述第二测试单元，所述第一信号和所述第二信号择一为高，每个测试信号输出模块响应于高电平输出测试信号至对应的测试单元，以使测试单元运行测试；其中，每个控制单元均响应于高电平输出低电平，每个测试单元响应于对应的控制单元输出的低电平而关闭，以在其中一个测试单元运行测试时，另一个测试单元关闭。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 惠科股份有限公司 测试电路、测试方法及显示装置

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD