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【发明授权】一种CMOS图像传感器的测试方法和系统_长春长光辰芯微电子股份有限公司_202011642675.8 

申请/专利权人:长春长光辰芯微电子股份有限公司

申请日:2020-12-30

公开(公告)日:2023-05-26

公开(公告)号:CN112752097B

主分类号:H04N17/00

分类号:H04N17/00

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2023.05.26#授权;2021.05.21#实质审查的生效;2021.05.04#公开

摘要:本发明提供了一种CMOS图像传感器的测试方法和系统,所述测试系统包括总控制器和图像传感器安装设备;所述图像传感器安装设备用于安装所述CMOS图像传感器,所述图像传感器安装设备上还设置有引脚调试设备,所述引脚调试设备用于配置所述CMOS图像传感器上各个引脚的工作模式;所述总控制器与所述引脚调试设备电连接,用于控制所述引脚调试设备对所述CMOS图像传感器上各个引脚进行调试。上述方案通过构建一个通用的图像传感器测试平台来满足图像传感器的测试条件,从而减轻了重复性的测试工作量以及测试准备时间。

主权项:1.一种CMOS图像传感器的测试系统,其特征在于,所述测试系统包括总控制器和图像传感器安装设备;所述图像传感器安装设备用于安装所述CMOS图像传感器,所述图像传感器安装设备上还设置有引脚调试设备,所述引脚调试设备用于配置所述CMOS图像传感器上各个引脚的工作模式;各个引脚的工作模式包括:数据模式、供电模式、参考电压模式、接地模式、偏置模式中的任一项;根据各个引脚配置的工作模式,将工作模式为数据模式的数据输出引脚与数据缓存器相连,同时将数据输入引脚通过接口与总控制器相连,并通过总控制器发送相应的配置信号;所述总控制器与所述引脚调试设备电连接,用于控制所述引脚调试设备对所述CMOS图像传感器上各个引脚进行调试。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 长春长光辰芯微电子股份有限公司 一种CMOS图像传感器的测试方法和系统

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