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【发明授权】决定集成电路之电压及找出电压与电路参数之关系的方法_瑞昱半导体股份有限公司_201811365095.1 

申请/专利权人:瑞昱半导体股份有限公司

申请日:2018-11-16

公开(公告)日:2023-07-25

公开(公告)号:CN111274751B

主分类号:G06F30/3315

分类号:G06F30/3315

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2023.07.25#授权;2020.07.07#实质审查的生效;2020.06.12#公开

摘要:本发明披露一种决定集成电路之电压及找出电压与电路参数之关系的方法。决定IC之电压的方法包含:依据电路设计进行一静态时序分析,以得到该电路设计之一关键路径的数据,再据以产生一网表;依据一标准电压及多个预设参数对网表执行电路参数模拟以及蒙特卡罗模拟,以分别得到电路参数参考值以及多个电路参数值的方差;依据预设电压范围执行适应性电压调整分析,以得到电压与电路参数关系,该电压与电路参数关系指出该预设电压范围内多个预设电压的每一个所关联的电路参数偏移达到了多少个方差;以及依据该标准电压测试IC,以得到该IC之电路参数测试值,并依据该电路参数测试值与该电路参数参考值之差以及该电压与电路参数关系,决定IC之供应电压。

主权项:1.一种决定集成电路之电压的方法,包含:依据一电路设计进行一静态时序分析,以得到该电路设计之一关键路径的数据,再依据该关键路径的该数据产生一网表;依据一标准电压及多个预设参数对该网表执行一电路参数模拟以及一蒙特卡罗模拟,以分别得到一电路参数参考值以及多个电路参数值的一方差;依据一预设电压范围执行一适应性电压调整分析,以得到一电压与电路参数关系,其中该电压与电路参数关系指出该预设电压范围内多个预设电压的每一个所关联的一电路参数偏移达到了多少个该方差;以及依据该标准电压测试一实体集成电路,以得到该实体集成电路之一电路参数测试值,并依据该电路参数测试值与该电路参数参考值之一测试参数差以及该电压与电路参数关系,决定该实体集成电路之一供应电压,其中该标准电压与该供应电压之一电压差正比于该测试参数差,其中该多个预设参数包含多个制程参数。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 瑞昱半导体股份有限公司 决定集成电路之电压及找出电压与电路参数之关系的方法

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