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【发明公布】一种终结阻抗参数的产生方法和测试系统_长鑫存储技术有限公司_202210605921.5 

申请/专利权人:长鑫存储技术有限公司

申请日:2022-05-30

公开(公告)日:2023-12-08

公开(公告)号:CN117198370A

主分类号:G11C29/36

分类号:G11C29/36;G11C29/50;G06F5/06

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.12.26#实质审查的生效;2023.12.08#公开

摘要:本公开实施例提供了一种终结阻抗参数的产生方法和测试系统,该方法包括:在接收到第一操作指令时,将多个预设控制字写入到数据缓冲器中的第一数据队列;其中,第一数据队列的数据用于指示在操作指令被执行的情况下不同执行阶段对应的终结阻抗参数;基于第一数据队列的数据,向数据缓冲器中的第三数据队列的对应位置写入数据;按照预设时序,通过数据缓冲器对第三数据队列的数据进行输出,得到第一终结阻抗信号。这样,根据工作场景实时输出第一终结阻抗信号,可以作为终结阻抗信号测试的验证数据,降低测试的复杂性,提高测试效率。

主权项:1.一种终结阻抗参数的产生方法,其特征在于,应用于包含数据缓冲器的参数产生装置;所述方法包括:在接收到第一操作指令时,将多个预设控制字写入到所述数据缓冲器中的第一数据队列;其中,所述第一数据队列的数据用于指示在操作指令被执行的情况下不同执行阶段对应的终结阻抗参数;基于所述第一数据队列的数据,向所述数据缓冲器中的第三数据队列的对应位置写入数据;按照预设时序,通过所述数据缓冲器对所述第三数据队列的数据进行输出,得到第一终结阻抗信号。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 长鑫存储技术有限公司 一种终结阻抗参数的产生方法和测试系统

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